[发明专利]一种红外远小目标检测方法有效
| 申请号: | 201711323185.X | 申请日: | 2017-12-13 |
| 公开(公告)号: | CN108062523B | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
| 发明(设计)人: | 刘光胜;祁伟;曹峰;杨粤涛;徐晓川 | 申请(专利权)人: | 苏州长风航空电子有限公司 |
| 主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06T7/11 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 红外 目标 检测 方法 | ||
1.一种红外远小目标检测方法,包括如下步骤:
步骤一,稀疏残差计算步骤
利用SLIC算法将红外图像分割成若干个区域块,
每个区域块用p={x,y,lu,gx,gy}表示,
其中,lu是亮度信息,gx,gy是梯度信息,x,y是像素点坐标,
红外图像表示为P=[p1,p2,...,pN],N是区域块的数目,
从P中抽取出图像的边界分割块d作为基,构建背景模板集D=[d1,d2,...,dM],
M是边界分割块的数目;
对分割图像进行编码,
λ是归一化参数,ωi是分割块di的权值,
P(di)代表di的领域分割块,权值ωi用来计算边界分割块di与其领域的相似性,
计算每一个分割块的正则化重建残差,
步骤二:结构相似性计算步骤
记F为输入图像I的特征图像,Γ是一个映射函数,通过映射变换F=Γ(I)将输入图像I中的每个像素映射为一个k维的特征向量,F中的一个区域qu能够用一个k×k的协方差矩阵表示,
其中qu,u=1,...,n表示区域q中k维的特征向量,μ代表区域q中k维的特征向量的均值,
通过两个区域的协方差计算结构的相似性,
步骤三:通过线性关系将稀疏残差和结构相似性信息融合得到最终的检测表达式,
其中t是融合的信息个数,St表示稀疏残差和结构相似性信息,
计算目标检测的结果
其中Smax是S的最大值,ε=0.6为阈值。
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