[发明专利]一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法

说明书

本发明公开了一种FOX‑7晶体表面缺陷的修饰方法，包括：步骤A：配制键合剂溶液；步骤B：将FOX‑7晶体颗粒加入键合剂溶液中对FOX‑7预处理，并搅拌干燥；步骤C：配制氟橡胶溶液；步骤D：FOX‑7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX‑7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，搅拌后旋转蒸发仪中真空蒸发。步骤F：FOX‑7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX‑7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成乙酸丁酯悬浮液，搅拌，过滤，烘干。得到表面修饰完成后的FOX‑7晶体颗粒。本发明通过采用键合剂HX‑878和氟橡胶F2311对FOX‑7晶体表面进行修饰能够有效降低FOX‑7表面的粗燥度，提高FOX‑7基PBX的工艺性能。

技术领域

本发明属于含能材料技术领域，具体涉及一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法。

背景技术

1,1-二氨基-2,2-二硝基乙烷(FOX-7)是一种新型的高能低感单质炸药，其能量与常用炸药黑索今(RDX)相当，但机械感度远低于RDX。以FOX-7为基的高聚物粘结炸药(PBX)同样具有高能量低感度的特点，其在侵彻、舰载武器系统中有较好的应用前景。

在FOX-7晶体中FOX-7分子曾层状波浪形排列，不同层分子之间主要靠氢键作用，因此FOX-7的晶体表面通常粗糙度较大并存在凹坑等缺陷，这些表明缺陷的存在使得FOX-7基PBX物料的粘度大幅增加，降低了其工艺成型性能。

发明内容

本发明的目的是提供一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法，获得表面粗燥度较低的FOX-7晶体颗粒。

为了达到上述的技术效果，本发明采取以下技术方案：

一种FOX-7晶体表面缺陷的修饰方法，包括以下步骤：

步骤A：键合剂溶液的配制：将键合剂溶于乙醇中配制成质量分数为5～8％的键合剂溶液；

步骤B：FOX-7的预处理：将FOX-7晶体颗粒加入键合剂溶液中，在常温下机械搅拌使FOX-7悬浮于键合剂溶液中，搅拌时间30～40min,搅拌完成后，过滤得到FOX-7颗粒，并在50～60℃下将颗粒烘干2h；

步骤C：氟橡胶填充液的配制：将氟橡胶溶于乙酸乙酯中，配制成质量含量为6～10％的氟橡胶溶液；

步骤D：FOX-7颗粒的表面填充：将步骤B得到的FOX-7晶体颗粒加入氟橡胶填充液中，在常温下机械搅拌1～1.5h然后将FOX-7的悬浮液加入旋转蒸发仪中，在真空条件下旋转蒸发20～25min。通过蒸发，将氟橡胶溶液中的乙酸乙酯溶液全部蒸发掉。采用旋蒸的目的是提高氟橡胶在FOX-7颗粒表面包覆效果。

步骤F：FOX-7颗粒的表面清理：将步骤D得到的FOX-7颗粒加入乙酸丁酯溶剂配制成质量含量为10～15％的乙酸丁酯悬浮液，在常温下机械搅拌10min。过滤得到FOX-7晶体颗粒，然后将颗粒在60～70℃下将颗粒烘干2～3h。即得到表面修饰完成后的FOX-7晶体颗粒。

进一步的技术方案是，所述的键合剂为HX-878。

进一步的技术方案是，所述的氟橡胶为F2311。

本发明中，采用键合剂HX-878对FOX-7进行预处理，一方面HX-878能够与FOX-7分子中的硝基形成弱分子键相互作用，使得HX-878与FOX-7晶体形成较强的界面结合力；另一方面氟橡胶在HX-878表面具有较好的侵润性能，采用HX-878处理后氟橡胶能够更加充分的进入FOX-7晶体表面的孔隙。

采用氟橡胶F2311对FOX-7晶体颗粒进行修饰，一方面F2311具有较高的力学强度和密度，其对FOX-7晶体颗粒修饰后能够在提高晶体颗粒表面光滑度的同时增加颗粒的密度，另一方面，F2311与PBX炸药配方中的其它组分相容性较好，引入F2311能提高以FOX-7为基PBX的物理和化学安定性能。