[发明专利]一种CT探测装置

说明书

本发明公开了一种CT探测装置，包括探测组件、射线发生器、计算机和传送带；探测组件和射线发生器对称设置在传送带两侧，分别用于探测射线信号和发出射线，计算机与探测组件相连，用于处理并重建探测组件反馈的信号。本发明通过探测组件、射线发生器、计算机和传送带的配合，提升了探测系统的成像性能，延长了系统寿命，降低了系统成本，弥补了传统探测器的缺陷。

技术领域

本发明涉及一种CT探测装置，属于行李物品安检CT技术领域。

背景技术

目前X射线计算机扫描断层成像技术(CT技术)已经广泛应用于对行李或货物的安全检查，尤其是双能CT系统的普遍应用使用，不仅能够形成三维图像解决堆叠型被检物的精确成像问题，还能得到被检物的物质信息，自动识别并标记危险品。一般的安检CT系统包括射线源、滑环、计算机、控制系统和探测装置等组成。其中探测装置对整体CT系统的性能和成本都有着巨大的影响。

常规的双能CT探测系统的核心一般由一个可以防止散射线的射线准直器与两层探测单元组合而成，即：在靠近探测系统最靠近射线处设置一个准直器以防止散射线，然后在印制电路板(PCB)靠近射线源的一侧设置一个低能探测器，主要接收能量较低的射线信号；在印制电路板远离射线源的一侧设置一个高能探测器，主要接收能量较高的射线信号，二者之间有能够阻挡低能射线穿过的滤波片。一般高低能探测单元的像素数量相等且一对一对齐，有时为节省成本，高能探测单元数量会低于低能探测单元。

在这种传统的探测器结构中，由于射线信号需要穿过低能探测器、PCB、滤波片，还有高能探测器的二极管部分才能被收集到，因此存在着许多问题，比如穿透过程导致有效信号会额外流失；长期被高能量射线照射造成二极管性能下降，使用寿命缩短且多层PCB制板成本较高。

发明内容

本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，本发明提供了一种CT探测装置，通过探测组件、射线发生器、计算机和传送带的配合，提升了探测系统的成像性能，延长了系统寿命，降低了系统成本，弥补了传统探测器的缺陷。

本发明的技术解决方案是：

一种CT探测装置，包括探测组件、射线发生器、计算机和传送带；探测组件和射线发生器对称设置在传送带两侧，分别用于探测射线信号和发出射线，计算机与探测组件相连，用于处理并重建探测组件反馈的信号。

在上述的一种CT探测装置中，所述探测组件包括低能探测器、高能探测器、基板和准直器；基板为PCB板，低能探测器和高能探测器均安装在基板一侧并指向射线发生器，低能探测器和高能探测器之间设有用于防止射线散射并过滤低能射线的准直器。

在上述的一种CT探测装置中，所述低能探测器和高能探测器均由光电器件和闪烁体组成，低能探测器和高能探测器的闪烁体均采用闪烁发光材料。

在上述的一种CT探测装置中，所述高能探测器的厚度与低能探测器的厚度之差不小于1mm。

在上述的一种CT探测装置中，所述准直器采用板状结构，准直器一侧设有用于减少射线散射的光栅结构，准直器另一侧对应高能探测器的位置设有用于过滤低能信号的滤波片，准直器由铝合金、铁合金、铜合金或铅合金铸造成型。

在上述的一种CT探测装置中，所述射线发生器的输出电压不小于120kV，射线发生器的输出电流不小于1mA。

在上述的一种CT探测装置中，所述传送带采用橡胶材料，传动带的厚度范围设为2mm～20mm。

在上述的一种CT探测装置中，所述基板上间隔设置若干个高能探测器，若干个高能探测器的间距范围设为20mm～200mm。

在上述的一种CT探测装置中，所述基板上间隔设置若干个低能探测器，若干个低能探测器的间距范围设为5mm～100mm。

在上述的一种CT探测装置中，所述传送带的传输速度不超过0.6m/s。