[发明专利]一种LTE_Advanced空口信号分析装置在审
申请号: | 201711318118.9 | 申请日: | 2017-12-12 |
公开(公告)号: | CN109302721A | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 陈向民 | 申请(专利权)人: | 上海创远仪器技术股份有限公司 |
主分类号: | H04W24/08 | 分类号: | H04W24/08;H04L12/24;H04W92/10 |
代理公司: | 上海宣宜专利代理事务所(普通合伙) 31288 | 代理人: | 刘君 |
地址: | 200000 上海市松江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析装置 空口信号 混频模块 分析 高速操作系统 傅里叶变换 本振模块 遍历搜索 独立信号 分析通道 基带处理 空口信令 射频信号 实时分析 天线端口 协议调度 信道估计 信道均衡 移动电脑 路端口 空口 手机 下行 小区 | ||
本发明公开了一种LTE_Advanced空口信号分析装置,所述空口射频信号通过四路端口输入四个混频模块进行分析,所述分析装置包括本振模块,混频模块,A/D控制模块,FPGA模块,ARM模块。本发明通过独立信号分析通道来分析不同天线端口的信号,采用多级FPGA模块化处理FFT(傅里叶变换)、同步、信道估计、信道均衡以及小区遍历搜索实现空信号的实时分析,采用RTOS系统的高速操作系统实现协议调度、基带处理以上下行空口信令分析,同时用户可以通过移动电脑,手机APP对本发明装置进行控制,在满足稳定空口信号分析的同时,也方便了用户。
技术领域
本发明涉及通信领域,尤其涉及一种LTE_Advanced空口信号分析装置。
背景技术
LTE-Advanced是LTE的演进,满足ITU-R的IMT-Advanced技术征集的需求,LTE以其高速率低时延等优点,得到世界各主流通信设备商和运营商的广泛关注。
随着LTE_Advanced技术发展的不断深入推进,LTE_Advanced技术的逐步成熟,运营商的大规模布网,空口信号分析测试仪器作为产业链的关键组成部分受到业界的广泛关注。作为运营商网络稳定、正常的运行重要保障,空口信号分析测试仪器发挥着越来越重要的作用。空口信号分析仪表作为前期布网、以及后期网络优化的一个重要环节,发挥着越来重要的作用。
对于空口信号分析,传统的测量装置通常会采用数据采集卡对数据进行海量采集,然后进行离线分析,这种方式往速度会很慢,浪费大量的人力、物力,同时还需要专业的研发人员进行分析,对于偶发问题不太容易捕捉。
因此,现有技术还有待发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处,本发明的目的在于提供一种LTE_Advanced空口信号分析装置,旨在实现可以实时对空信号进行监控、分析,上报问题提示,同时可以实时将测量数据,以及故障定位信息根据时间和地理位置坐标进行存储,以便工程技术人员进行查看分析的目的。
为了达到上述目的,本发明采取了以下技术方案:
一种LTE_Advanced空口信号分析装置,所述空口射频信号通过四路端口输入四个混频模块进行分析,所述分析装置包括本振模块,混频模块,A/D控制模块,FPGA模块,ARM处理器模块,所述第一本振模块输出端与第一混频模块输出端连接,所述第一混频模块的输出端与第一A/D控制模块的输入端相连,所述第一A/D控制模块的输出端与第一FPGA输入端连接,所述第一FPGA输入输出端与第二FPGA输入输出端相连;
所述第二本振模块输出端与第二混频模块输出端连接,所述第二混频模块输出端与第二A/D控制模块输入端相连,所述第二A/D控制模块的输出端与第二FPGA输入端连接;
所述第三本振模块输出端与第三混频模块输出端连接,所述第三混频模块输出端与第三A/D控制模块输入端相连,所述第三A/D控制模块输出端与第三FPGA输入端相连,所述第三FPGA输入输出端与第二FPGA输入输出端相连;
所述第四本振模块输出端与第四混频模块输出端连接,所述第四混频模块输出端与第四A/D控制模块输入端相连,所述第四A/D控制模块输出端与第四FPGA输入端相连,所述第四FPGA输入输出端与第三FPGA输入输出端相连;
所述第二FPGA输入输出端还与第五FPGA输入输出端相连,所述第三FPGA输入输出端还与第六FPGA输入输出端相连,所述第五FPGA输入输出端与第六FPGA输入输出端相连,所述第五FPGA输入输出端与第六FPGA输入输出端还分别与第七FPGA输入输出端相连,所述第七FPGA输入输出端与第一ARM处理器输入输出端相连,所述第一ARM处理器输入输出端与第二ARM处理器输入输出端相连,所述第二ARM处理器输入输出端与控制显示模块的输入输出端相连。
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