[发明专利]基于柔性铰链结构的超分辨光刻方法和装置在审
| 申请号: | 201711316112.8 | 申请日: | 2017-12-12 |
| 公开(公告)号: | CN108037638A | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
| 发明(设计)人: | 罗先刚;赵承伟;张斌;王长涛;高平;刘利芹;刘明刚 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F9/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 柔性 铰链 结构 分辨 光刻 方法 装置 | ||
1.一种基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:包括紫外曝光光源(1)、检平模块(2)、对准模块(3)、柔性铰链光刻镜头(4)、承片台模块(5)和支撑架(6),支撑架(6)包含上支撑板(7)和下支撑板(8),支撑架(5)安装于隔震平台上,紫外曝光光源(1)安装于上支撑板(7)上,检平模块(2)安装于上支撑板(7)上,对准模块(3)安装于上支撑板(7)上,柔性铰链光刻头安装在上支撑板(7)上,承片台模块(5)安装在下支撑板(8)上。
2.根据权利要求1所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述紫外曝光光源(1),用于产生均匀的曝光光束,紫外曝光光源波长范围为365±5nm,光场均匀性大于95%,光场面积大于120mm×120mm,功率密度大于15mw/cm2,工作距大于200mm,发散半角小于3°。
3.根据权利要求1所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述检平模块(2),采用非接触检测方法,检测的平行度误差要求小于1’,装置将根据检平结果,自动调节承片台模块(5),实现掩模板(404)和基片(503)的调平。
4.根据权利要求1所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述对准模块(3),包括位移台(301)、CCD(302)、镜筒(303)、照明光源(304)、反射镜(305),CCD(302)安装于位移台(301)上,镜筒(303)安装于CCD(302)上,照明光源(304)安装于镜筒(303)上,反射镜(305)安装于所述镜筒(303)上,其中位移台(301)具有六个方向的自由度,用于定位标记以及对焦。
5.根据权利要求1所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述柔性铰链光刻镜头(4),包括安装板(401)、柔性铰链(402)、掩模安装板(403)和掩模板(404),柔性铰链(402)安装于安装板(401)上,掩模安装板(403)安装于柔性铰链(402)下端,掩模板(404)安装于掩模安装板(403)上。
6.根据权利要求1或5所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述柔性铰链光刻镜头(4),通过承片台模块(5)上移,使基片(503)和掩模(404)缓慢接触,进而使得掩模(404)绕其通过几何中心相互正交的两个轴旋转完成贴平,该方式减小了基片(503)和掩模(404)接触过程中产生的横向位移。
7.根据权利要求5所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述柔性铰链(402),所选材料具有良好的强度,大于980Mpa、硬度45HRC-50HRC、弹性和抗疲劳性能。
8.根据权利要求5或7所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述柔性铰链(402)中,柔性单元包含圆形、椭圆、弓形等,柔性单元的加工精度要求高于20μm。
9.根据权利要求1所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:所述承片台模块(5),承片台模块包含多轴位移台模块(501)、承片台(502)和基片(503),多轴位移台(501)安装在下安装架(6)上,承片台(502)安装在多轴位移台(501)上,基片(503)安装在承片台(501)上。
10.一种基于柔性铰链结构的超分辨光刻方法,利用权利要求1-9任一项所述的基于柔性铰链结构的超分辨光刻装置,其特征在于:利用所述柔性铰链超分辨光刻装置进行曝光的步骤包括:
步骤1:所述承片台模块将所述承片台移动到加载位置,加载基片;
步骤2:所述承片台模块移动到曝光位置,将所述基片置于所述检平模块的视场内,通过所述检平模块的照明系统照明,在探测单元中成像,采集掩模和基片图像信息,计算所述掩模和所述基片的平行度,根据计算结果,控制承片台模块对掩模和基片进行调平;
步骤3:所述对准模块的照明系统照明,在探测单元中成像,通过采集掩模“十”字标记和基片方块标记的图像,计算掩模和基片的相对位置,移动或者旋转承片台,快速的实现粗对准;然后采集所述掩模和所述基片的莫尔条纹图像,计算所述掩模和所述基片的相对位置,移动或者旋转所述承片台,对所述掩模和所述基片进行精密对准;
步骤4:所述承片台向上移动,使掩模和基片缓慢接触,接触过程中,在比较小的贴紧力作用在柔性铰链上,使掩模绕其通过几何中心的相互正交的两个轴旋转,完成贴平,避免产生横向位移;
步骤5:所述紫外曝光光源产生光束,照射到所述掩模,通过所述成像系统成像到基片上,完成曝光;
步骤6:曝光结束后,所述紫外曝光光源停止产生光束,所述承片台下移,使所述掩模和所述基片分离;
步骤7:所述承片台步进到下一个曝光位置;
步骤8:依次重复步骤4、步骤5、步骤6、步骤7,直到完成所有位置曝光;
步骤9:所述承片台移动到卸载位置,卸载所述基片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711316112.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多工位圆盘供料装置
- 下一篇:一种环保电缆填充材料





