[发明专利]基于内插器的测试程序评估有效
| 申请号: | 201711315985.7 | 申请日: | 2017-12-12 | 
| 公开(公告)号: | CN108254671B | 公开(公告)日: | 2022-01-11 | 
| 发明(设计)人: | C·P·昂;H·S·贾 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 | 
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 | 
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐东升;赵蓉民 | 
| 地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 内插 测试 程序 评估 | ||
1.一种测试系统,其包括:
印刷电路板,其包括耦合至自动测试装置的输入/输出端子的端子;以及
切换内插器板,其将所述印刷电路板的所述端子耦合至集成电路器件,所述切换内插器板包括:
探测点;
第一总线;
第二总线;以及
一组开关,每个开关包含第一端子、第二端子和第三端子,所述第一端子耦合至所述集成电路器件的相应引脚,所述第二端子耦合至所述第一总线,并且所述第三端子耦合至所述第二总线,所述一组开关中的每一个具有第一状态和第二状态,所述第一状态在评估由所述自动测试装置执行的测试程序的短路测试期间通过所述第一总线选择性地将所述集成电路器件的一对引脚彼此耦合,并且所述第二状态在评估由所述自动测试装置执行的所述测试程序生成的信号的电压电平尖峰测试期间通过所述第二总线选择性地将所述集成电路器件的至少一个引脚耦合至所述探测点。
2.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述一组开关中的每个开关具有第三状态,所述第三状态选择性地将所述集成电路器件的相应引脚与所述第一总线和所述第二总线解耦。
3.根据权利要求1所述的测试系统,其进一步包含示波器,所述示波器在所述电压电平尖峰测试期间可视地识别所述探测点处的电压电平尖峰。
4.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述一组开关是单刀三掷开关,每个开关具有所述第一状态和所述第二状态。
5.根据权利要求4所述的测试系统,其中所述单刀三掷开关是滑动开关。
6.根据权利要求1所述的测试系统,其进一步包括手动致动器,在评估由所述自动测试装置执行的所述测试程序的所述短路测试期间以及在评估由所述自动测试装置执行的所述测试程序产生的所述信号的所述电压电平尖峰测试期间,所述手动致动器将所述集成电路器件电耦合至所述切换内插器板。
7.根据权利要求1所述的测试系统,其中所述集成电路器件是方形扁平无引线集成电路封装件即QFN集成电路封装件。
8.根据权利要求7所述的测试系统,其中所述QFN集成电路封装件是24引脚QFN集成电路封装件、36引脚QFN集成电路封装件和48引脚QFN集成电路封装件中的一种。
9.一种测试方法,其包括:
将印刷电路板的端子耦合至自动测试装置的输入/输出端子;
用包含一组开关的切换内插器板将所述印刷电路板的所述端子耦合至集成电路器件;
将来自所述一组开关的每个开关在所述每个开关的第一端子处耦合至所述集成电路器件的相应引脚,在所述每个开关的第二端子处耦合至第一总线,并且在所述每个开关的第三端子处耦合至第二总线;
在所述每个开关的第一状态期间,在评估由所述自动测试装置执行的测试程序的短路测试期间,通过所述第一总线选择性地将所选的一对引脚彼此耦合;以及
在所述每个开关的第二状态期间,在评估由所述自动测试装置执行的所述测试程序生成的信号的电压电平尖峰测试期间,通过所述第二总线选择性地将所述集成电路器件的所选的引脚耦合至所述切换内插器板的探测点。
10.根据权利要求9所述的测试方法,其进一步包括:在第三状态期间,选择性地将所述集成电路器件的相应引脚与所述第一总线和所述第二总线解耦。
11.根据权利要求9所述的测试方法,其进一步包括在所述电压电平尖峰测试期间用示波器可视地识别在所述探测点处的电压电平尖峰。
12.根据权利要求9所述的测试方法,其中所述一组开关是是单刀三掷开关,每个开关具有所述第一状态和所述第二状态。
13.根据权利要求12所述的测试方法,其中所述单刀三掷开关是滑动开关。
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