[发明专利]一种锥体表面光洁度检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种锥体表面光洁度检测方法及装置，其中，所述锥体表面光洁度检测装置包括：支撑系统，光源系统，取像系统以及图像分析系统；其中，所述支撑系统用于调节锥体样品的测试位置；所述光源系统用于照射锥体表面产生检测用的反射光；所述取像系统用于接收锥体表面的反射光；所述图像分析系统用于将所述取像系统接收到的反射光进行图像处理得到锥体表面光洁度信息。本发明可以实现快速、实时检测金属锥体表面光洁度测试，提高检测和生产效率。

技术领域

本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种锥体表面光洁度检测方法及装置。

背景技术

锥体表面在加工后难免会存在一部分瑕疵，为了检测该加工时引入的误差信息，在工业车制金属锥体的检测过程中，通常采用激光正入射至锥体的正上方，观察锥体表面处反射的环形激光，分别在近处、远处的竖直平面上的分布情况，根据其杂散光分布以分析样品表面的光洁程度。这种较为繁复的检测方式检测效率低，需要多次移动观察近远处的竖直平面上方分布，而且这种方法只能进行定性分析，无法进行准确的定量分析。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种锥体表面光洁度检测方法及装置，从而克服现有技术中的锥体表面光洁度检测方法耗力耗时，检测效率低的问题。

本发明的技术方案如下：

本发明提供一种锥体表面光洁度检测装置，其中，包括：

支撑系统，用于调节锥体样品的测试位置；

光源系统，用于照射锥体表面产生检测用的反射光；

取像系统，用于接收锥体表面的反射光；以及

图像分析系统，用于将所述取像系统接收到的反射光进行图像处理得到锥体表面光洁度信息。

所述的锥体表面光洁度检测装置，其中，所述支撑系统包括：用于带动锥体样品转动的样品转台，用于驱动所述样品转台转动的步进电机，以及与所述步进电机连接用于调节锥体样品高度的升降台。

所述的锥体表面光洁度检测装置，其中，所述光源系统包括：设置在所述支撑系统上部的激光器，以及设置在所述激光器上部用于安放锥体样品并便于反射光射出的透明套筒。

所述的锥体表面光洁度检测装置，其中，所述取像系统包括：设置在所述光源系统一侧的相机支架，设置在相机支架上的相机转台，以及设置在所述相机转台上的线阵相机。

本发明还提供一种锥体表面光洁度检测方法，其中，所述方法基于一锥体表面光洁度检测装置；所述锥体表面光洁度检测装置包括：支撑系统，光源系统，取像系统以及图像分析系统；所述支撑系统包括：用于带动锥体样品转动的样品转台，用于驱动所述样品转台转动的步进电机，以及与所述步进电机连接用于调节锥体样品高度的升降台；所述光源系统包括：设置在所述支撑系统上部的激光器，以及设置在所述激光器上部用于安放锥体样品并便于反射光射出的透明套筒；所述取像系统包括：设置在所述光源系统一侧的相机支架，设置在相机支架上的相机转台，以及设置在所述相机转台上的线阵相机；

所述方法包括：

步骤C、将锥体样品放置于透明套筒正上方；打开激光器，调节激光器位置直到锥体表面反射光水平；打开线阵相机，检查并确保线阵相机的靶面中心与反射光中心重合；

步骤D、通过图像分析系统采集初始角度对应的表面光洁度信息，得到该角度对应的向量数据；开启步进电机使其匀速旋转，控制转速与线阵相机的曝光时间相匹配，结合图像分析系统进行图像处理扫描，实时采集各个角度的表面光洁度信息，将每个角度对应的向量数据结合，得到整个锥体的表面光洁度-θ图。

所述的锥体表面光洁度检测方法，其中，所述步骤D之后还包括：