[发明专利]激光光源散斑测量方法、散斑抑制装置及其参数优化方法有效
申请号: | 201711307713.2 | 申请日: | 2017-12-11 |
公开(公告)号: | CN109900663B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 常松涛;杨旺;李旭;宫晨 | 申请(专利权)人: | 长春长光华大智造测序设备有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 彭家恩;罗瑶 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 光源 测量方法 抑制 装置 及其 参数 优化 方法 | ||
1.一种激光光源散斑测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
S110:激光发生器发射的激光照射至荧光成像相机上,所述荧光成像相机不带镜头,不带镜头的所述荧光成像相机直接作为激光散斑的接收屏;
S120:荧光成像相机在预设曝光时间内接收激光,并生成相应的图像信息;
S130:采集所述图像信息并形成含有散斑的高斯形分布图像,其中散斑表现为高频噪声;
S140:将高斯形分布图像处理后计算出散斑对比度。
2.如权利要求1所述的激光光源散斑测量方法,其特征在于,所述激光发生器发射的激光透过衰减片后照射至荧光成像相机上。
3.如权利要求1或2所述的激光光源散斑测量方法,其特征在于,所述高斯形分布图像处理为:将含有散斑的高斯形分布图像三维高斯拟合后得到能量分布,再将高斯拟合后每个像素点的强度归一化后得到含有噪声的均匀图像。
4.如权利要求3所述的激光光源散斑测量方法,其特征在于,所述高斯形分布图像处理后根据如下公式计算出散斑对比度:
其中,C表示散斑对比度,σI表示光强的标准差,表示光强的均值。
5.一种散斑抑制参数优化方法,其特征在于,包括如下步骤:
S210:根据激光成像系统要求设定散斑对比度指标;
S220:预设散斑抑制模块参数,改变荧光成像相机的曝光时间t,曝光时间t依次为t1、t2、…、tn,通过权利要求1至4任一项所述的激光光源散斑测量方法测量出散斑对比度,并记录上述曝光时间下散斑对比度小于指标的散斑抑制参数值和荧光成像相机的曝光时间;
S230:改变散斑抑制模块参数,重复步骤S220;
S240:统计所有散斑对比度小于指标的散斑抑制参数值和荧光成像相机的曝光时间,并从中选取优值。
6.如权利要求5所述的散斑抑制参数优化方法,其特征在于,所述散斑抑制模块参数包括光纤圈数c和振动频率f,所述步骤S230包括如下子步骤:
S231:改变振动频率f,振动频率f依次为f1、f2、…、fm,重复步骤S220;
S232:改变光纤圈数c,光纤圈数c依次为c1、c2、…co,重复步骤S220和S231。
7.如权利要求6所述的散斑抑制参数优化方法,其特征在于,对于多波长的激光光源,每个波长激光分别进行步骤S210-S240测量记录,并从中选取出优值。
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