[发明专利]一种元器件用X射线批量化试验夹具有效
申请号: | 201711291926.0 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN108188952B | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 李璇;张红旗;代添翼;唐章东;范壮壮;王雪生;刘建强;刘承溪 | 申请(专利权)人: | 中国空间技术研究院 |
主分类号: | B25B11/00 | 分类号: | B25B11/00;G01N23/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张丽娜 |
地址: | 100194 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 夹具 试验夹具 子母 宇航用元器件 多方向射线 便于拆装 封装形式 矩阵阵列 快速查找 准确定位 扩展性 可伸缩 批量化 翻转 胶贴 卡簧 试验 延展 元器件 损伤 检测 损害 | ||
本发明属于宇航用元器件技术领域,特别涉及一种用于X射线检测试验夹具的设计。本发明的夹具采用子母夹具的设计方式,可伸缩延展,扩展性强,适用多种封装形式;子母夹具间已卡簧固定,便于拆装;本发明的夹具采用矩阵阵列,便于器件的准确定位及快速查找计数;且操作简便,可实现待试器件的快速翻转,满足器件多方向射线检测试验需求,大幅度提高X光试验的效率;本发明的夹具能够避免常规胶贴法固定对器件造成显性损害及隐形损伤的问题。
技术领域
本发明属于宇航用元器件技术领域,特别涉及一种用于X射线检测试验夹具的设计。
背景技术
X射线照相试验是宇航用元器件筛选试验和可靠性试验必不可少的重要试验内容,可以非破坏性的检测封装内的缺陷,特别是密封工艺引起的缺陷和诸如多余物、错误的内引线连接、芯片附着材料中的或采用玻璃密封时玻璃中的空洞等内部缺陷。目前,宇航型号所使用的高等级、高可靠性元器件的品种和数量越来越多。在实际质量保证工作中,会遇到各种不同形式,各种封装及各种材料的元器件,这就需要研制各种X射线检测夹具,用于元器件的X射线检测试验。
常规夹具法一般根据不同封装单独设计并制造,品种多,数量大,成本高,试验操作繁杂,无法实现X、Y两方向的快速翻转。
发明内容
本发明的技术解决问题:克服现有技术的不足,提出一种元器件用X射线批量化试验夹具,该夹具针对X射线检测试验器件结构的复杂性及封装形式的多样性,器件防护的需求以及夹具拆装效率不高等特点采取了针对性的设计。克服了现有试验夹具的繁杂和不足,提出一种简洁高效的子母夹具设计结构方法。
本发明的技术解决方案是:
一种元器件用X射线批量化试验夹具,包括第一支架、第二支架、第一支柱、第二支柱和若干转压装置,所述的转压装置包括转动轴和压板;
所述的第一支架和第二支架均用于安装转压装置;
所述的第一支架和第二支架通过第一支柱和第二支柱进行固定连接且通过调整第一支柱和第二支柱的长度可以用来调整第一支架和第二支架之间的距离,进而达到调整位于第一支架上的转压装置和位于第二支架上的转压装置之间的距离;
所述转压装置中的压板包括一空心圆柱、螺栓和压簧,在空心圆柱的侧表面上带有一凸块,压簧套在螺栓上,套有压簧的螺栓位于空心圆柱的中心孔内;该空心圆柱为阶梯圆柱,包括上端的大圆柱和下端的小圆柱,大圆柱的内径与小圆柱的内径一致,大圆柱的外径比小圆柱的外径大,用于提拉方便;
所述转压装置中的转动轴包括端盖和一体成型的阶梯圆柱,阶梯圆柱从左到右依次为小圆柱、中圆柱和大圆柱,小圆柱、中圆柱和大圆柱的外径依次变大,中圆柱的外表面上沿周向上分布有三个定位槽,其中一个定位槽位于中圆柱的外表面的最顶端,另外两个定位槽分布位于最顶端定位槽的左侧90°和右侧90°位置,大圆柱的底端和顶端均被铣平,大圆柱的中间部分开有半圆柱槽和方槽,半圆柱槽靠近中圆柱的位置,该半圆柱槽与所述转压装置中的压板上的圆柱相匹配,所述转压装置中的压板上的圆柱在该半圆柱槽内可以转动,方槽与夹具子体的外形相匹配,当夹具子体放置到该方槽中时通过所述压板上的圆柱带有的凸块对该夹具子体进行压实,达到固定夹具子体的目的;
所述的第一支架和第二支架上均开有用于安装转动轴的通孔,通孔的内表面的最顶端位置有定位块,所述的通孔内表面上的定位块与所述的转动轴中圆柱上的定位槽相匹配并进行定位;
为了进一步优化所述的通孔内表面上的定位块与所述的转动轴中圆柱上的定位槽的匹配关系,在所述的通孔内表面上开有小孔,小孔内放置滚珠,滚珠通过压簧实现滚珠与所述的转动轴中圆柱上的定位槽的匹配定位关系;
所述的端盖与所述的转动轴的小圆柱通过螺栓连接,实现转动轴与第一支架和第二支架在轴向上的定位(所述的轴向是指转动轴的轴向,所述的轴是指中圆柱的轴);
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