[发明专利]支持冷备份应用的CMOS输出缓冲电路有效

专利信息
申请号: 201711291781.4 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN107894933B 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: 高国平;贺凌炜;罗静;王栋 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十八研究所
主分类号: G06F11/20 分类号: G06F11/20;H03K19/0185
代理公司: 总装工程兵科研一所专利服务中心 32002 代理人: 杨立秋
地址: 214000*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 支持 备份 应用 cmos 输出 缓冲 电路
【权利要求书】:

1.一种支持冷备份应用的CMOS输出缓冲电路,其特征在于,所述CMOS输出缓冲电路包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS 管、第四NMOS管、第五NMOS管、第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第八PMOS管和与非门,其中:

所述第一PMOS管的源极以及所述第四PMOS管的源极与所述CMOS输出缓冲电路的电源电性相连;

所述第一NMOS管的栅极与所述与非门的输出端电性连接,所述第一NMOS管的源极接地,所述第一NMOS管的漏极、所述第二PMOS管的漏极、所述第一PMOS管的漏极以及所述第七PMOS管的源极均与所述CMOS输出缓冲电路的输出端口电性连接;

所述第一PMOS管、所述第二PMOS管、所述第四PMOS管、所述第五PMOS管、所述第六PMOS管、所述第七PMOS管的衬底与所述第四PMOS管的漏极、所述第五PMOS管的源极、所述第六PMOS管的源极电性连接;

所述第三PMOS管的源极、栅极和衬底与所述第一PMOS管的栅极电性连接;

所述第七PMOS管的漏极与所述第八PMOS管的源极电性相连,所述第八PMOS管的漏极、栅极和衬底与所述第四PMOS管的栅极、所述第四NMOS管的漏极电性相连;

所述第四NMOS管的源极与所述第五NMOS管的漏极电性相连,所述第五NMOS管的衬底与所述第四NMOS管的衬底、所述第五NMOS管的源极电性相连,所述第五NMOS管的源极接地;

所述第五PMOS管的漏极、所述第六PMOS管的漏极以及所述第二NMOS管的漏极均与所述第一PMOS管的栅极电性相连;

所述第二NMOS管的源极与所述第三NMOS管的漏极电性相连,所述第二NMOS管的衬底与所述第三NMOS管的衬底以及所述第三NMOS管的源极电性相连,所述第二NMOS管的源极接地。

2.根据权利要求1所述的CMOS输出缓冲电路,其特征在于,所述第二PMOS管的栅极、所述第五PMOS管的栅极、所述第七PMOS管的栅极、所述第三NMOS管的栅极、所述第四NMOS管的栅极接第一使能信号;

所述与非门的第一输入端接第二使能信号,所述与非门的第二输入端接内部电路输出的数据信号;

所述第二NMOS管的栅极、第六PMOS管的栅极接所述数据信号。

3.根据权利要求2所述的CMOS输出缓冲电路,其特征在于,

当所述CMOS输出缓冲电路在所述电源掉电前,所述第一使能信号为低电平,所述第二使能信号为高电平时,所述第一NMOS管、所述第三NMOS管和所述第四NMOS管均处于关闭状态,所述第二PMOS管和所述第七PMOS管均处于导通状态,所述电源电压下降,所述输出端口的端口电压高于所述电源,电流通过所述第二PMOS管和所述第三PMOS管对所述第一PMOS管充电至所述端口电压,使所述第一PMOS管截止以断开所述输出端口至所述电源的第一通路;电流通过所述第七PMOS管和所述第八PMOS管对所述第四PMOS管充电至所述端口电压,使所述第四PMOS管截止以断开所述输出端口到所述电源的第二通路;

在所述CMOS输出缓冲电路中的电源掉电过程中和电源掉电后,所述CMOS输出缓冲电路的输出端口上存在静态或动态信号,所述输出端口不存在到所述电源的漏电通路。

4.根据权利要求3所述的CMOS输出缓冲电路,其特征在于,所述输出端口上存在的动态信号的范围为-0.3V~(VDD+1V),VDD为所述CMOS输出缓冲电路中的电源的电压值。

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