[发明专利]光线入射角度测量结果的校准方法

说明书

本申请实施例提供的光线入射角度测量结果的校准方法，基于包括光学接收装置、计算装置及至少一组具有预置安装参数的微透镜阵列的光线入射角度测量系统，预先任取一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列，所述方法包括：基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值；以第一入射角度值作为已知量，并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值；基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值，并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值；基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准，以得到校准后的入射角度值。通过本方案，可提高光线入射角度测量结果的精度。

技术领域

本发明涉及光学测量领域，尤其涉及一种光线入射角度测量结果的校准方法。

背景技术

在光学测量领域，尤其是对于光线入射角度的测量，目前大多为采用光电自准直系统来实现，其中，在光电自准直系统中常用的光电接收器件，比如可包括CCD(Charge-coupledDevice)电荷耦合元件、PSD(PositonSensitiveDetector)位置敏感器件、四象限光电探测器等，以根据光的自准直原理并结合光电接收器件获得的数据实现对光线入射角度的测量。

在实际应用中，提高光线入射角度测量精度的需求越来越广泛。为了提高光线入射角度的测量精度，现有通常采用共有的基准面或借助校准器对光线入射角度的测量结果进行校准操作。其中，采用共有的基准面进行校准，是将自准直系统和一块标准的反射镜同时置于标准平台上，该标准的反射镜能保证与水平平台垂直，即相当于基准，自准直系统的光源发光，经反射镜反射回来之后在自准直系统会显示出来反射光斑的位置，调整自准直系统，直到经反射镜反射回来的光线与自准直系统的出射光线重合；借助校准器进行校准，是借助标准的校准器来完成整个校准过程。

在上述方案中，校准过程都需要借助额外的校准设备，一方面，在校准设备使用过程中，为满足测量要求，通常每隔半年或一年由计量部门对该仪器进行校准，给校准人员带来不便；另一方面，现有操作过程较为复杂，且校准效果依赖于操作人员的人为因素或设备精度等客观因素，校准效果不理想，进而影响光线入射角度的测量精度。

发明内容

本发明提供了一种光线入射角度测量结果的校准方法，可提高光线入射角度的测量精度。

为达到上述目的，本申请的实施例采用如下技术方案：

一种光线入射角度测量结果的校准方法，所述方法基于包括光学接收装置、计算装置及至少一组具有预置安装参数的微透镜阵列的光线入射角度测量系统，预先任取一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列，所述方法包括：

基于对第一校准阵列的测量结果获取第一入射角度值；

以第一入射角度值作为已知量，并结合第二校准阵列的安装参数获取入射角度修正值；

基于对第三校准阵列的测量结果获取第二入射角度值，并根据第二入射角度值与入射角度修正值计算得到第三入射角度值；

基于第四校准阵列的安装参数对第三入射角度值进行校准，以得到校准后的入射角度值。

本发明提供的光线入射角度测量结果的校准方法，整个校准过程无需借助额外的校准设备，而是基于包括预先规划安装参数的至少一组微透镜阵列、光学接收器件及计算装置的光线入射角度测量系统而完成的，预先任选一组微透镜阵列中的四列微透镜作为校准阵列，并通过结合对经由校准阵列的光线入射角度的测量结果、校准阵列的实际安装参数等数据对光线入射角度测量结果进行自校准，以得到校准后的光线入射角度值，从而提高光线入射角度测量结果的精度。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明