[发明专利]多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法

说明书

本发明涉及一种多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器电性连接，主电路板与次级电路板通过超级通道互连连接器形成各自的扫描链，控制器分别进行各自扫描链预设值的取得并生成差分测试数据，再推送差分测试数据至各自的扫描链以进行差分测试，借此可以达成提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的技术功效。

技术领域

本发明涉及一种测试系统及其方法，尤其是指一种提供不同电路板彼此之间的中央处理单元进行差分测试的系统及其方法。

背景技术

现有对于电路板上中央处理单元彼此之间的差分测试，仅能提供在单一电路板上进行，若是电路板彼此之间通过超级通道互连连接器相互连接，不同电路板彼此之间的中央处理单元并无法进行差分测试。

综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在不同电路板彼此之间的中央处理单元无法进行差分测试的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此问题。

发明内容

鉴于现有技术存在不同电路板彼此之间的中央处理单元无法进行差分测试的问题，本发明遂说明一种多电路板的中央处理单元差分测试系统及其方法，其中：

本发明所说明的多电路板的中央处理单元差分测试系统，其包含：主电路板、至少一次级电路板以及控制器。

主电路板具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，UPI)连接器以及第一控制器连接器，每一个第一中央处理单元与第一超级通道互连连接器其中之一电性连接。

至少一次级电路板具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器，每一个第二中央处理单元与第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器对应插接于第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的第二超级通道互连连接器形成扫描链。

控制器通过第一控制器连接器与主电路板形成电性连接，控制器通过第二控制器连接器与次级电路板形成电性连接，控制器用以执行下列步骤：

控制器分别取得扫描链的预设值(default)；控制器依据扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；控制器通过第二控制器连接器推送差分测试数据至第二中央处理单元以由扫描链推送至第一中央处理单元进行差分测试，以通过第一控制器连接器从第一中央处理单元接收结果数据；及控制器依据差分测试数据与结果数据判断差分测试结果。

本发明所说明的多电路板的中央处理单元差分测试方法，其包含下列步骤：

首先，提供具有至少一第一中央处理单元、至少一第一超级通道互连(ultrapathinterconnect，UPI)连接器以及第一控制器连接器的主电路板，每一个第一中央处理单元与第一超级通道互连连接器其中之一电性连接；接着，提供具有至少一第二中央处理单元、至少一第二超级通道互连连接器以及第二控制器连接器的至少一次级电路板，每一个第二中央处理单元与第二超级通道互连连接器其中之一电性连接，第二超级通道互连连接器对应插接于第一超级通道互连连接器，每一个第一中央处理单元通过相互电性连接的第一超级通道互连连接器以及每一个第二中央处理单元通过相互电性连接的第二超级通道互连连接器形成扫描链；接着，提供控制器，控制器通过第一控制器连接器与主电路板形成电性连接，控制器通过第二控制器连接器与次级电路板形成电性连接；接着，控制器分别取得扫描链的预设值(default)；接着，控制器依据扫描链的预设值并配合差分测试算法生成至少一差分测试数据；接着，控制器通过第二控制器连接器推送差分测试数据至第二中央处理单元以由扫描链推送至第一中央处理单元进行差分测试，以通过第一控制器连接器从第一中央处理单元接收结果数据；最后，控制器依据差分测试数据与结果数据判断差分测试结果。