[发明专利]监控系统及监控方法在审
申请号: | 201711270219.3 | 申请日: | 2017-12-05 |
公开(公告)号: | CN109855670A | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 吴怡欣;余承叡;盛敏成 | 申请(专利权)人: | 财团法人资讯工业策进会 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00;G01R31/28 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 叠代 储存装置 监控系统 处理器 历史参数 暂存 机台 选择性输出 准确度 产品测试 接收测试 警示信息 监控 警示 测试 更新 | ||
一种监控系统及监控方法。监控系统包含第一储存装置以及处理器。第一储存装置用以暂存第一叠代值,第一叠代值是对应第一历史参数。处理器用以接收测试机台测试第一产品的第一参数,处理器用以将第一参数与第一叠代值进行叠代计算后产生第二叠代值,并将暂存于第一储存装置中的第一叠代值更新为第二叠代值以供后续进行叠代计算以选择性输出警示信息,其中第二叠代值是对应第一参数及第一历史参数。借此,本揭示文件的监控系统通过第一储存装置以及处理器,并透过叠代计算,进而提高产品测试的准确度与效益以及达到即时警示的目的。
技术领域
本揭示文件是关于一种监控系统及监控方法,尤指一种用以监控利用测试机台进行测试的产品的测试状况的监控系统及监控方法。
背景技术
为确保产品的功能无误,产品在出货前往往都会透过测试机台进行相关的测试,例如以IC封装为例,则需要对IC封装的电性功能做进一步的测试。
然而,在已知的测试机制中,由于测试机台的零件不稳定或故障,则可能会将良产品误判为坏产品,当坏产品太多时,就需要暂停测试程序并修缮零件,如此造成人力的无效耗损与出货时间的延迟;此外,由于用于测试及比较的参考数据/参考值是储存于硬式磁盘机(hard disk drive,HDD)、固态硬盘(solid state disk,SSD)或容错式磁盘阵列(redundant array of independent disks,RAID)中,因此用于比较及测试的处理器必须至上述储存装置中存取数据以进行比较及测试,又由于上述储存装置中的数据很多,故已知测试机制难以即时将测试的数据/测试的值与参考数据/参考值进行比较及测试,并给予对应的建议。
发明内容
本揭示文件提供一种监控系统及监控方法。
本揭示文件的一实施例揭示一种监控系统,包含第一储存装置以及处理器。第一储存装置用以暂存第一叠代值,第一叠代值是对应第一历史参数。处理器用以接收测试机台测试第一产品的第一参数,处理器用以将第一参数与第一叠代值进行叠代计算后产生第二叠代值,并将暂存于第一储存装置中的第一叠代值更新为第二叠代值以供后续进行叠代计算以选择性输出警示信息,其中第二叠代值是对应第一参数及第一历史参数。
根据本揭示文件的一实施例,叠代计算为处理器利用数据分箱技术(databinning technique)将第一参数和与第一叠代值对应的第一历史参数中具有相同数值的参数进行分群以产生群组,群组包含第一群组及第二群组,第一群组包含的参数的数量大于第二群组包含的参数的数量,处理器以第一群组中的参数的数量及数值为基础,并根据第二群组中的参数的数量及数值,来决定第二叠代值。
根据本揭示文件的一实施例,处理器用以判断当第一参数的任一者未位于第一叠代值的范围时输出警示信息。
根据本揭示文件的一实施例,当测试机台测试第二产品时,处理器用以接收第二产品的第二参数,处理器用以将第二参数与第二叠代值进行叠代计算后产生第三叠代值,并将暂存于第一储存装置中的第二叠代值更新为第三叠代值,其中第三叠代值是对应第一参数、第一历史参数及第二参数,处理器用以根据第二叠代值选择性输出警示信息。
根据本揭示文件的一实施例,处理器用以判断当第二参数未位于第二叠代值的范围时输出警示信息。
根据本揭示文件的一实施例,监控系统还包含第二储存装置,处理器更用以将暂存于第一储存装置中的第一叠代值或第二叠代值储存至第二储存装置,并清除暂存于第一储存装置中的第一叠代值或第二叠代值,使得第一储存装置用以暂存处理器所产生的其他叠代值。
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