[发明专利]一种FPGA配置PROM的筛选检测方法

说明书

一种FPGA配置PROM的筛选检测方法，涉及一种FPGA配置PROM的筛选检测方法，解决现有PROM的筛选检测方法容易降低配置过程的信号完整性，配置过程易受干扰，同时易增加体积，不适合在结构紧凑的载荷中应用等问题，包括筛选检测系统，筛选检测系统包括PC机以及设置在高低温箱内的控制器和n组PROM电路；每组PROM电路包括电流检测电路、PROM的可调供电电源以及幅度和电平可调的驱动器；控制器分别与每组PROM电路的电流检测电路、PROM的可调供电电源、幅度和电平可调的驱动器连接；本发明提出在器件落焊前进行筛选检测的方法，通过改变环境温度、供电电压、控制信号电平和读出时钟频率，同时监测器件的工作电流，提前剔除性能差的器件，降低器件落焊的风险。

技术领域

本发明涉及一种FPGA配置PROM的筛选检测方法，具体涉及一种基于航天应用的FPGA配置的OTP类型PROM的筛选检测方法。

背景技术

在航天应用中，为提高空间环境的适应性，通常使用OTP(one-timeprogrammable)类型的PROM来存储FPGA器件的配置数据。OTP类型的PROM即使烧录后能回读数据，读出的数据(包括头三、尾三和累加和)与原始的数据相同，焊接在已经通过层层考核的线路板上，也可能出现配置失败，则需要拆卸后重新焊接，在多次拆卸的过程中存在整板报废的风险；若把PROM焊接在一块小线路板上通过连接器与FPGA相连，容易降低配置过程的信号完整性，配置过程易受干扰，同时易增加体积，不适合在结构紧凑的载荷中应用。

发明内容

本发明为解决现有PROM的筛选检测方法容易降低配置过程的信号完整性，配置过程易受干扰，同时易增加体积，不适合在结构紧凑的载荷中应用等问题，提供一种FPGA配置PROM的筛选检测方法。

一种FPGA配置PROM的筛选检测方法，包括筛选检测系统，所述筛选检测系统包括PC机以及设置在高低温箱内的控制器和n组PROM电路；每组PROM电路包括电流检测电路、PROM的可调供电电源以及幅度和电平可调的驱动器；

所述控制器分别与每组PROM电路的电流检测电路、PROM的可调供电电源、幅度和电平可调的驱动器连接；

所述控制器用于改变PROM的可调供电电源的输出电压，幅度和电平可调的驱动器输出信号的幅度和电平，还用于改变输入幅度和电平可调的驱动器的控制信号频率，同时接收从PROM中读出的数据；

所述PC机通过串行总线与控制器连接，并向控制器发出命令，同时接收从控制器返回的数据；

具体筛选步骤为：

步骤一、工作频率的筛选；

控制器输出额定电平的控制信号，高低温箱保持额定的温度T_work，供电电源输出额定电压，在不同的控制信号频率下从PROM中读出数据，判断读出数据的正确性，同时监测PROM工作电流的变化；

在工作频率为kf_work的范围内，判断读出数据的是否错误，如果是，则筛选失败，执行步骤五；如果否，执行步骤二；所述k范围在之间，f_work为额定工作频率，f_max为最大工作频率；

步骤二、工作电压的筛选：

控制器输出额定电平控制信号和额定工作频率f_work的控制信号，高低温箱保持额定的温度T_work，在供电电源输出不同的电压下从PROM中读出数据，判断读出数据的正确性，同时监测PROM工作电流的变化；

如果供电电压在V_CC±0.2范围内出现读出的数据错误，则认为筛选失败；V_CC为器件的额定电压；

步骤三、控制信号电平的筛选；