[发明专利]一种钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法

说明书

本发明公开了一种钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法，包括以下步骤：1）测定待测钛白粉的基料中的碳含量C0；2）在所述待测钛白粉的基料中添加不同量的有机硅助剂，分别测其碳含量Ci；3）由步骤1）和步骤2）的测定结果计算出不同有机硅助剂添加量的碳含量C=Ci‑C0，并推算出每千分之一有机硅助剂所对应的碳含量；4）测定待测钛白粉中的碳含量Cy；5）由步骤1）、步骤3）和步骤4）的测定结果计算出待测钛白粉中的有机硅包覆量。采用本发明的测定方法能够测出钛白粉中有机硅助剂的包覆量，操作简便，测试结果较准确。

技术领域

本发明属于材料分析检测领域，具体涉及一种钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法。

背景技术

钛白粉的表面处理一般可以分为无机表面处理和有机表面处理两种类型，其中有机表面处理是通过有机物的极性基团吸附或键合在二氧化钛的粒子表面，依靠电斥力和空间位阻效应来提高二氧化钛在各种分散介质中的润湿性、分散性和流变性。现钛白粉厂家一般采用的有机表面处理剂大多为多元醇系列（一般为三羟甲基丙烷、三羟甲基乙烷等）和有机硅系列。钛白粉的有机表面处理剂的添加量，不仅会影响到钛白粉的分散性，而且也会影响到钛白粉的耐温耐黄变性，故针对钛白粉的不同应用领域，钛白粉中有机表面剂的包覆量就显的尤为重要。

特别是在有机硅助剂的生产控制方面，由于钛白粉厂家基本上采用蠕动泵添加，添加后的有机硅助剂由于其表面性能的影响会粘附到汽粉磨中，从而造成实际添加量和预设添加量有出入，故必须对钛白粉的有机硅的包覆量有一个精确的衡量。

因此，亟需提供一种能够准确测量钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法。

发明内容

针对现有技术存在的上述不足，本发明的目的是提供了一种钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法，将建立的方法与采用红外碳硫分析仪测定碳含量相结合，能够较准确地测得有机硅表面处理剂的包覆量。

本发明提供了一种钛白粉表面有机硅处理剂包覆量的测定方法，该测定方法包括以下步骤：

1）测定待测钛白粉的基料中的碳含量C0；

2）在所述待测钛白粉的基料中添加不同量的有机硅助剂，分别测其碳含量Ci；

3）由步骤1）和步骤2）的测定结果计算出不同有机硅助剂添加量的碳含量C=Ci-C0，并推算出每千分之一有机硅助剂所对应的碳含量C_{1‰有机硅}；

4）测定待测钛白粉中的碳含量Cy；

5）由步骤1）、步骤3）和步骤4）的测定结果计算出待测钛白粉中的有机硅包覆量Y_{有机硅/‰}，如式①所示：

①。

本发明中，对于碳含量的测定可以选用本领域中常用的技术手段进行检测。优选情况下，各样品中的碳含量采用红外碳硫分析仪测定。

根据本发明，为了提高测试的准确性，在碳含量的测定中至少取三个样品点进行分析，最后取其平均值。

根据本发明，步骤2）中，至少测定三组不同有机硅助剂添加量的基料，有机硅助剂的添加量可为1~100‰，优选为1~50‰，具体可根据实际样品中有机硅助剂的大致添加量的多少进行调节。另外，每组添加量的基料至少取三个样品点进行测定。

本发明中，对于待测定样品的前处理均采用本领域的常规技术手段，例如，采用万能粉碎机对基料进行粉碎，用烘箱进行烘干等。

采用本发明的测定方法具有如下有益效果：

1、本发明建立了一种能够测定有机硅处理剂表面包覆量的方法，同时结合红外碳硫分析仪对碳含量精准测定，实现钛白粉厂家生产上正在使用的有机硅处理剂表面包覆量进行测定。