[发明专利]一种评价电路板环境耐久性的测试方法

权利要求书

1.一种评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，包括：

步骤S1、准备符合试验要求的电路板样品，对样品进行预处理后，观察并记录试验样品的外观，作为初始外观状态；

步骤S2、测量试验样品初始绝缘电阻；

步骤S3、根据电路板功能特征，检测试验样品功能是否正常，并记录测试结果；

步骤S4、将试验样品分组，分别放置在模拟不同真实工作状况的环境，将置于模拟不同真实工作状况的试验样品置于盐雾箱中，进行交变盐雾循环试验；

步骤S5、交变盐雾循环试验后，将样品取出，观察并记录样品试验后的外观，然后用冷风吹干样品表面，再对样品进行干燥处理；

步骤S6、测量样品试验后的绝缘电阻；

步骤S7、检测样品试验后的功能是否正常，并记录测试结果；

步骤S8、根据样品试验前后的外观变化、绝缘电阻变化和功能变化情况，评价电路板在不同真实工作状况下的性能。

2.如权利要求1所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述步骤S1中符合试验要求的电路板样品为所需评价的电气设备实际使用的电路板或者与实际使用电路板选材设计完全相同的模拟件电路板。

3.如权利要求1或2所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述步骤S1中对样品进行的预处理是将所有试验样品放在温度为35±5℃的空气循环烘箱中进行烘干处理2h以上。

4.如权利要求3所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述步骤S2中测量绝缘电阻，具体步骤包括：

(1)将试验样品在同等条件下进行冷却；

(2)对样品进行绝缘电阻测试，连接试验电压500V±10V，施加试验电压1min后立即测量绝缘电阻，测试过程中根据电路板特征选择测量位置，对所有电路板进行测量时，电位极性均保持一致。

5.如权利要求1、2、4任一项所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述步骤S4中模拟不同真实工作状态的环境包括三种，第一种试验样品不带任何防护措施，第二种试验样品放置于IP防护箱内，试验过程中IP防护箱一直处于关闭状态，第三种试验样品放置于IP防护箱内，试验过程中IP防护箱，箱门定期处于开启状态。

6.如权利要求5所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述箱门每7天开启一次，每次开启5min，开启时间段选择在交变盐雾喷雾阶段。

7.如权利要求5所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述IP防护箱的等级根据电气设备外壳的防护等级来定。

8.如权利要求1、2、4、6、7任一项所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述步骤S4中交变盐雾循环试验进行1‐6个周期，根据具体的试验条件来确定试验周期数。

9.如权利要求8所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述步骤S5中干燥处理是将所有试验样品放在温度为35±5℃的空气循环烘箱中进行烘干处理2h以上。

10.如权利要求8所述的评价电路板环境耐久性的测试方法，其特征在于，所述步骤S6中测量绝缘电阻，具体步骤包括：

(1)将试验样品在同等条件下进行冷却；

(2)对样品进行绝缘电阻测试，连接试验电压500V±10V，施加试验电压1min后立即测量绝缘电阻，绝缘电阻的测量位置以及电位极性应与测量初始值时保持一致。