[发明专利]一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像方法和装置

权利要求书

1.一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像装置，包括光源，光源发出的激发光由显微物镜聚焦到样品上并收集样品发出的信号光，其特征在于，接收信号光的探测系统包括：

光纤束，内含多根光纤同时接收到所述的信号光；

探测器阵列，所述的探测器阵列为APD阵列，具有分别连接每根光纤的多个探测器，得到对应的光强信号；

时间相关单光子计数器阵列，具有分别连接每个探测器并与光源脉冲同步的时间相关单光子计数器，用于计算荧光寿命并实现超分辨荧光寿命成像；

将每个探测器探测到的经过重组的光强信号叠加起来，就得到最终的超分辨成像结果：

同时探测器阵列中的每个APD都与一个TCSPC相连，TCSPC与光源脉冲进行同步，通过计算在各个同步周期内APD接收到的光子的到达时间，从而实现寿命的计算，再利用并行探测的相关算法，实现对样品的超分辨荧光寿命成像；

所述的光源与显微物镜之间依次布置有：

用于保证激发光出射偏振方向不变的保偏光纤；

用于对激发光进行准直的准直透镜；

用于将激发光为线偏振光的1/2波片和第一1/4波片，和将线偏振光转换为圆偏振光的第二1/4波片；

用于对激发光扩束和点扫描的4f系统；

所述探测系统包括依次布置的：

用于滤去背景噪声、提高成像信噪比的窄带滤波片；

用于调整信号光斑大小的4f透镜系统；

和用于将信号光束聚焦到收集信号光的光纤束内的聚焦透镜。

2.如权利要求1所述的超分辨荧光寿命成像装置，其特征在于，具有放置所述样品并实现扫描的电动压电平台。