[发明专利]一种坏块识别方法及装置有效

专利信息
申请号: 201711241290.9 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN107908500B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 姬瑞勤;辛海宁 申请(专利权)人: 新华三技术有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G06F12/02
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 310052 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 识别 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种坏块识别方法,应用于以与非Nand闪存Flash为存储介质的通信设备,其特征在于,该方法包括:

根据预设坏块表bbt描述符规则从Nand Flash的数据区中查找bbt描述符;

若查找到bbt描述符,则对所述bbt描述符进行错误检查和纠正ecc校验;

基于校验后的bbt描述符执行查找;

当查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时,根据查找到的bbt表确定所述NandFlash中的坏块。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据预设坏块表bbt描述符规则从所述Nand Flash的数据区中查找bbt描述符之后,还包括:

若未查找到bbt描述符,则扫描所述Nand Flash,以确定所述Nand Flash中的坏块。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于校验后的bbt描述符执行查找之后,还包括:

若未查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表,则扫描所述Nand Flash,以确定所述Nand Flash中的坏块。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述查找到bbt描述符,包括:查找到主bbt描述符或备bbt描述符;

所述当查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时,根据查找到的bbt表确定所述Nand Flash中的坏块,包括:

当查找到校验后的主bbt描述符对应的主bbt表时,根据查找到的主bbt表确定所述NandFlash中的坏块;或,

当查找到校验后的备bbt描述符对应的备bbt表时,根据查找到的备bbt表确定所述NandFlash中的坏块。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述查找到bbt描述符,包括:查找到主bbt描述符和备bbt描述符;

所述当查找到所述校验后的bbt描述符对应的bbt表时,根据查找到的bbt表确定所述Nand Flash中的坏块,包括:

当查找到校验后的主bbt描述符对应的主bbt表,但未查找到校验后的备bbt描述符对应的备bbt表时,根据所述主bbt表确定所述Nand Flash中的坏块;

当查找到校验后的备bbt描述符对应的备bbt表,但未查找到校验后的主bbt描述符对应的主bbt表时,根据所述备bbt表确定所述Nand Flash中的坏块;

当查找到校验后的主bbt描述符对应的主bbt表和校验后的备bbt描述符对应的备bbt表,但所述主bbt表和所述备bbt表的版本不一致时,根据所述主bbt表和备bbt表中版本较新的一个确定所述Nand Flash中的坏块;

当查找到校验后的主bbt描述符对应的主bbt表和校验后的备bbt描述符对应的备bbt表,且所述主bbt表和所述备bbt表的版本一致时,根据所述主bbt表确定所述Nand Flash中的坏块。

6.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述扫描所述Nand Flash,以确定所述Nand Flash中的坏块,包括:

对于第一类型Nand Flash中的任一块,当该块的第一页的带外数据区域的第一个字节中bit位为1的个数大于等于7时,确定该块为好块;否则,确定该块为坏块;其中,所述第一类型Nand Flash中每512字节最大出现1bit翻转;

对于第二类型Nand Flash中的任一块,当该块的第一页的带外数据区域的第一个字节中bit位为1的个数大于等于4时,确定该块为好块;否则,确定该块为坏块;其中,所述第二类型Nand Flash中每512字节最大出现4bit或8bit翻转。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当所述Nand Flash在使用过程中产生了坏块时,更新bbt表,并将该块的第一页的oob区域的第一个字节中bit位为1的个数更新为表征该块为坏块的数值。

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