[发明专利]PET探测器谱漂的实时校正的方法及谱漂校正系统有效

专利信息
申请号: 201711237521.9 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN108042148B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 田利波;孙德晖 申请(专利权)人: 江苏赛诺格兰医疗科技有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613 代理人: 韩国胜
地址: 225200 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: pet 探测器 实时 校正 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种PET探测器谱漂的实时校正的方法,其特征在于,包括:

依据PET探测器的能谱图,判断所述PET探测器是否发生谱漂;

若发生谱漂,则判断所述PET探测器是位于外部辐射场内还是外部辐射场外;

若所述PET探测器位于外部辐射场内,则以当前PET探测器所在环境的温度值为地址,查询温度-谱漂校正的映射关系,获取谱漂校正所需要的补偿增益;所述温度-谱漂校正的映射关系为温度值和该温度值的补偿增益之间的映射关系;

基于所述补偿增益,采用所述PET探测器对应的补偿电路进行增益补偿;

若所述PET探测器位于外部辐射场外,则判断是否需要进行谱漂校正;

若需要,则调整所述PET探测器对应的补偿电路,使所述PET探测器获得的总体增益与标定时的总体增益基本相同;以及

将所述PET探测器当前温度值和所述补偿电路的补偿增益记录在所述映射关系中;

所述总体增益包括:所述补偿电路的补偿增益和所述PET探测器自身的增益;

其中,判断是否需要进行谱漂校正的步骤,包括:

对所述PET探测器自身晶体辐射产生的事件累积预设时间长度的能谱图,从该能谱图中获取晶体辐射特征峰的道址;

依据所述晶体辐射特征峰的道址,获取探测器的漂移道址;

判断所述漂移道址和所述PET探测器的标定道址的差值是否大于预设第二阈值;

如果大于,则需要进行谱漂校正,否则,不需要谱漂校正。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述以当前PET探测器所在环境的温度值为地址,查询温度-谱漂校正的映射关系,获取谱漂校正所需要的补偿增益的步骤之前,所述方法还包括:

判断上一次校正时的温度值和当前时间点的温度值的差值是否小于第一阈值,所述上一次为与当前时间点距离最近的一次,所述温度值均是所述PET探测器所在环境的温度值;

如果小于所述第一阈值,则不执行获取谱漂校正所需要的补偿增益的步骤;

否则,执行获取谱漂校正所需要的补偿增益的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

若不需要进行谱漂校正,则将所述PET探测器当前温度值和所述PET探测器当前的补偿增益记录在所述映射关系中;

和/或,

若不需要进行谱漂校正,则将所述PET探测器当前温度值和所述PET探测器当前的补偿增益、上一次的补偿增益进行低通滤波后,得到新的补偿增益,将当前温度值和新的补偿增益记录在所述映射关系中;

所述上一次的补偿增益为当前温度值相同的且时间点最近一次的属于PET探测器的补偿增益。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述漂移道址=晶体辐射特征峰的道址*校准源特征峰的能量÷晶体辐射特征峰的能量。

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