[发明专利]一种多线激光轮廓扫描传感器全局校准方法有效

专利信息
申请号: 201711227578.0 申请日: 2017-11-29
公开(公告)号: CN108151667B 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 毛宏勇;范卓;姜勇 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七一九研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 武汉天力专利事务所 42208 代理人: 吴晓颖
地址: 430205 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 轮廓 扫描 传感器 全局 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种多线激光轮廓扫描传感器全局校准方法,其特征在于该方法包括以下步骤:

(1)待校准在线测量系统由i个一体式线激光轮廓扫描传感器构成一个测量单元;i个传感器呈空间分布,无共同视场;

(2)校准用标靶为三维立体标靶,标靶对应每个传感器的视场中都有j个特征面;标靶加工完成后对特征面进行三坐标扫描,以获取带有标靶表面特征的点云数据;

(3)通过对步骤(2)中的点云进行最优化拟合,重建标靶特征面的几何信息;

(4)OWXWYWZW为系统的全局测量坐标系,位于三维标靶上,OiXiYiZi为传感器i的局部测量坐标系,通过几何属性工具,可以获取各个传感器对应特征面在坐标系OWXWYWZW中的数学描述;

空间平面f的数学描述为Ax+By+Cz+D=0,平面f的向量表示为f=[A B C D];

将三维标靶放置于测量系统中,传感器i截取标靶上的对应特征面,定义数据点集坐标矩阵Pi-j=[xi-j 0 zi-j],其齐次坐标矩阵为pi-j=[xi-j 0 zi-j 1],每个点集都有其对应的特征面;

定义Pi=[Pi-1 Pi-2…Pi-j],为传感器i的数据点集在其局部测量坐标系OiXiYiZi下的坐标矩阵,定义fi={fi-1,fi-2,…,fi-j},为传感器i的特征面集合,标靶的特殊外形保证了Pi与fi在坐标系OWXWYWZW下配准存在唯一性;

定义Tmi-W为传感器i局部测量坐标系OiXiYiZi到全局测量坐标系OWXWYWZW的变换矩阵,

Ri-w为OiXiYiZi到OWXWYWZW的旋转矩阵,

其中r1-i、r2-i和r3-i为Ri-w中三个相互独立的未知变量,代表坐标系OiXiYiZi到全局测量坐标系OWXWYWZW三个方向的旋转参数;

Ti-w为OiXiYiZi到OWXWYWZW的平移向量,

Ti-w=[Δxi Δyi Δzi]T

Δxi、Δyi和Δzi为Ti-w中三个相互独立的未知变量,代表坐标系OiXiYiZi到全局测量坐标系OWXWYWZW三个方向的平移参数,

其中,n=(r1-i,r2-i,r3-i,Δxi,Δyi,Δzi)为待求的参数;

Fi(n)为传感器i的Pi-j点集在全局测量坐标系OWXWYWZW下到平面fi-j的距离求和;在理想状态下,传感器截取的点云数据通过变换矩阵Tmi-W变换到全局测量坐标系OWXWYWZW下,对应点与平面会完全重合,考虑到系统和随机误差,采用非线性优化在六维空间中求解minFi(n),即可得到n的最优解,即求解出传感器i局部测量坐标系OiXiYiZi到全局测量坐标系OWXWYWZW最优的变换矩阵Tmi-W,完成空间分布且无共同视场的多线激光扫描传感器全局校准。

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