[发明专利]一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置

权利要求书

1.一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，其特征在于设有质谱MCP检测器、光电子速度成像透镜系统、成像探测系统、第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器、第3螺旋直线导入器、第1滑轨和第2滑轨；所述质谱MCP检测器与第3螺旋直线导入器相连，所述第3螺旋直线导入器调节成像探测系统的垂直高度，第1螺旋直线导入器、第2螺旋直线导入器与光电子速度成像透镜系统相连，旋转第1螺旋直线导入器和第2螺旋直线导入器调节光电子速度成像透镜系统的水平位置，光电子速度成像透镜系统设在第1滑轨和第2滑轨上；所述光电子速度成像透镜系统设有参考电极片和三场加速电极片。

2.如权利要求1所述一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，其特征在于所述成像探测系统设有MCP、荧光屏和CCD相机。

3.如权利要求1所述一种用于质谱和光电子速度成像共同探测的装置，其特征在于所述质谱MCP检测器降下时其中心位于光脱附点。