[发明专利]一种存储器的信号完整性测试方法在审
申请号: | 201711218060.0 | 申请日: | 2017-11-28 |
公开(公告)号: | CN108039189A | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
发明(设计)人: | 叶佳星;欧阳志光;曾涛 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/08 | 分类号: | G11C29/08;G11C29/50;G11C29/56 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储器 信号 完整性 测试 方法 | ||
1.一种存储器的信号完整性测试方法,应用于一动态随机存储器;其特征在于,包括:
步骤S1,采用固定的读的延时以及参考比较电压,以及循环调整的写的延时值和比较电压值的组合策略对所述动态随机存储器进行多次读写操作;
步骤S2,记录所述动态随机存储器响应每次所述读写操作的每个测试结果;
步骤S3,根据所有所述测试结果,分析得到会影响所述测试结果的所述延时值和所述比较电压值的分别的数值边界;
步骤S4,根据分别的所述数值边界,制作一二维数字眼图,所述二维数字眼图具有表示所述延时值的水平方向坐标以及表示所述比较电压值的垂直方向坐标。
2.根据权利要求1所述的信号完整性测试方法,其特征在于,循环调整的所述组合策略为:
每次所述测试操作设定的写的所述比较电压值从一第一初始值开始以一第一预设步进值逐次递增,直至找到使得所述测试结果不同的所述比较电压值的上边界;以及
每次所述测试操作设定的写的所述延时值从一第二初始值开始以一第二预设步进值逐次递增,直至找到使得所述测试结果不同的所述延时值的上边界。
3.根据权利要求2所述的信号完整性测试方法,其特征在于,所述第一预设步进值为所述动态随机存储器的接口电压的0.65%~0.7%,所述第二预设步进值为6~8皮秒。
4.根据权利要求1所述的信号完整性测试方法,其特征在于,所述组合策略中,采用每个所述延时值和所述比较电压值进行的所述测试操作需要重复一预设数量次;
所述步骤S3具体为:
根据所有所述测试结果,分析得到致使所述测试结果稳定的所述延时值和所述比较电压值分别的所述数值边界。
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