[发明专利]一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法

权利要求书

1.一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，包括以下步骤：

1)测量剂量仪在不同能量E₁、E₂……E_n光子射线照射下的原始响应K₁、K₂……K_n；

2)列举所有可能的补偿材料并对这些材料在不同能量E_i的光子照射下的线衰减系数μ_i值进行计算；

3)列举出全部可能的补偿材料的空隙率p和厚度t的组合，并代入方程组(2)求解值；

方程组(2)中μ₁、μ₂……μ_n表示补偿材料在不同能量处的线衰减系数，δ_i指能量为E_i的射线入射时对应的δ值；

4)设置不同的选择条件，从计算结果中选择出符合用户需要的能量补偿方案。

2.如权利要求1所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征是，所述步骤1)的方法包括：输入剂量计原始能量响应，剂量计探头未经补偿时，测量裸探头在不同能量E₁、E₂……E_n光子照射下的探测计数值，并归一化到某一能量点。

3.如权利要求2所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征是，所述的能量点是¹³⁷Cs的γ射线能量662keV。

4.如权利要求1至3任一项所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征是：步骤2)中，所述的补偿材料有锡、铅、铜及其组合。

5.如权利要求4所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征是：步骤2)中，以锡、铅、铜作为补偿材料，每种材料以1％为变化步长，则有“1+2+3+……+101＝5151”种选择，即第一种材料由0％至100％有101种选择，第一种材料确定后，第二种材料在不大于“1-第一种材料所占的百分数”的范围内选择，前两种材料及其比例确定后，第三种材料即严格确定。

6.如权利要求1所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征在于：步骤3)中，采用穷举法，列举出所有可能的空隙率p有n种，补偿材料的厚度t为m种，将全部可能的空隙率p和厚度t进行组合，则采用穷举法的组合数为：

A＝C¹_n·C¹_m (3)。

7.如权利要求6所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征在于：所述的补偿材料空隙率在0-1之间变化，空隙率的最小变化单位是0.1％，其中空隙率为1时补偿无意义，所以空隙率的变化有1000种可能。

8.如权利要求6或7所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征在于：所述的补偿材料厚度的最大值设为5mm，以0.01mm为最小变化单位，其中厚度为0时补偿无意义，所以可列举500种厚度。

9.如权利要求8所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征在于：步骤4)中，对于每一种能量补偿方案，得到一组δ_i值，这一组δ_i值中绝对值最大的那个记为|δ_i|_max，选择|δ_i|_max最小的为该种能量补偿方案。

10.如权利要求8所述的一种辐射剂量仪能量响应补偿分析的方法，其特征在于：步骤4)中，或者计算每一种补偿方案得到的一组δ_i值的平方和∑δ_i²，选择出其中的最小值作为补偿方案。