[发明专利]一种基于六维调整的反转法直线度测量装置在审

专利信息
申请号: 201711214332.X 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN107727051A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 袁道成;陶鑫;朱元庆;刘波 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
主分类号: G01B21/24 分类号: G01B21/24
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心51210 代理人: 翟长明,韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 调整 反转 直线 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种基于六维调整的反转法直线度测量装置,包括传感器安装臂(1)、传感器安装座(2)、微位移传感器(27)、反转平尺(4)、六维调整平台(5),其特征是,所述微位移传感器(27)安装在传感器安装座上,传感器安装座(25)固定在传感器固定臂(1)上,传感器固定臂(1)安装在被测导轨(8)上,可随被测导轨移动;所述六维调整平台(5)底座由三个支撑脚(53)和三点支撑平台基板(54)组成,其中两个支撑脚对称分布在平台一侧,另一个支撑脚分布在平台另一侧中间;所述六维调整平台(5)主调整体由两个三维微位移台(52)和三个平尺支撑球(51)组成,三维微位移台(52)固定于三点支撑平台基板(54)两侧,两个三维微位移台(52)上基面分别固定1个和2个平尺支撑球(51);所述反转平尺(4)放置于三个平尺支撑(51)上;反转平尺(4)两端有直线两点标识球(42)。

2.根据权利要求1所述的一种基于六维调整的反转法直线度测量装置,其特征在于:反转直线六维姿态调整由六维调整平台(5)实现,由底部三个支撑脚(54)和上面两个三维微位移台(52)实现;具体调整过程为:调整底部双支撑脚(53)那一侧的支撑脚(53),可调整反转平尺(4)滚转角β;同步调整两个三维微位移台(52),可调整反转平尺(4)x、y、z三个方向的位移;沿x方向调整其中一个三维微位移台(52),可调整反转平尺(4)偏摆角θ;沿z方向调整其中一个三维微位移台(52),可调整反转平尺(4)俯仰角α。

3.根据权利要求1所述的一种基于六维调整的反转法直线度测量装置,其特征在于:反转平尺(41)两端有直线两点标识球(42),通过球面进行反转直线(43)的位置测量定位。

4.根据权利要求3所述的一种基于六维调整的反转法直线度测量装置,其特征在于:反转直线(43)的位置测量定位采用以下步骤进行:

A、移动导轨(8)使微位移传感器(27)对准终止点直线两点标识球(42),调整六维调整平台(5)上面的两个三维微位移台(52),使直线两点标识球(42)在微位移传感器(27)测量范围内;

B、移动导轨(8)使微位移传感器(27)对准另一端直线两点标识球(42),调整六维调整平台(5),使直线两点标识球(42)在微位移传感器(27)测量范围内;

C、移动导轨使微位移传感器(27)测量点处于平尺上,z方向调整两个三维微位移台(52)并观察微位移传感器(27)示值,若示值变化,调整六维调整平台(5)底部支撑脚(53),直至微位移传感器(27)在竖直方向移动时示值保持不变;

D、移动导轨(8)使微位移传感器(27)对准起始点直线两点标识球(42),观察微位移传感器(27)示值并沿Z方向调整六维调整平台(5),使直线两点标识球(42)竖直方向移动,直至调整到微位移传感器(27)示值极小值位置;

E、移动导轨(8)使微位移传感器(27)对准另一端直线两点标识球(42),重复步骤四操作;

F、移动导轨(8)使微位移传感器(27)对准起始点直线端点标识球(42)并沿导轨运动方向调整六维调整平台(5),使直线两点标识球(42)沿导轨运动方向小范围移动,直至调整到微位移传感器(27)示值极小值位置。

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