[发明专利]一种硅片的缺口检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种硅片的缺口检测方法及装置，所述方法包括：获取硅片图像，提取所述硅片的边界点；针对每个边界点，根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点，确定该边界点对应的方向角变化量；针对每个边界点，判断该边界点对应的方向角变化量是否大于预设的方向角变化阈值；如果是，确定该边界点处存在缺口。由于在本发明实施例中，针对硅片的每个边界点，根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点，确定该边界点对应的方向角变化量，并当该边界点对应的方向角变化量大于预设的方向角变化阈值时，确定该边界点处存在缺口，直接根据硅片的边界点对硅片是否存在缺口进行检测，无需对边界点进行拟合，提高了硅片的缺口检测的精度与效率。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种硅片的缺口检测方法及装置。

背景技术

硅片是一种制造太阳能电池板的基础材料，由硅棒切片获得，通常为圆形。硅片的缺口是硅片加工过程中由于边缘受力不均或人为破坏导致的缺陷，具体表现为硅片的边缘出现破损或缺失等。存在缺口缺陷的硅片制造的太阳能电池板会出现性能下降，甚至无法使用的问题，因此，在制造太阳能电池板之前，需要将存在缺口的硅片进行剔除。

现有的硅片的缺口检测方法，主要是对硅片图像进行阈值分割，确定硅片的外轮廓，即根据硅片图像中硅片区域中像素点的灰度值与非硅片区域中像素点的灰度值不同，确定硅片的外轮廓，对外轮廓上硅片的边界点进行拟合；并按照预设步长，在外轮廓上选取检测部位，确定每个检测部位对应的拟合后的曲线的长度，并将每个检测部位对应的曲线的长度进行聚类，计算包含曲线的长度数量最多的类对应的曲线的长度均值，并针对每个检测部位判断该检测部位对应的曲线的长度，与曲线的长度均值的差的绝对值，是否大于设定阈值，如果是，确定该检测部位存在缺口。

然而，现有技术中，在硅片的缺口进行检测时，对边界点进行拟合，会弱化硅片的缺口特征，并且由于拟合算法自身存在误差，拟合后的曲线也会存在误差，进而导致了硅片的缺口检测的精度不高，另外，当硅片图像的像素分辨率较高时，边界点的数量也会增多，拟合过程会占用较多的处理资源，导致硅片的缺口检测的效率降低。

发明内容

本发明提供一种硅片的缺口检测方法及装置，用以解决现有技术中硅片的缺口检测的精度及效率不高的问题。

本发明公开了一种硅片的缺口检测方法，所述方法包括：

获取硅片图像，提取所述硅片图像中硅片区域对应的每个边界点；

针对每个边界点，根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点，确定该边界点对应的方向角变化量；

针对每个边界点，判断该边界点对应的方向角变化量是否大于预设的方向角变化阈值；如果是，确定硅片与该边界点对应处存在缺口。

进一步地，所述根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点，确定该边界点对应的方向角变化量包括：

将该边界点与该边界点相邻的两个边界点分别连接，确定该边界点对应的第一直线和第二直线；

根据所述第一直线和所述第二直线的夹角，确定该边界点对应的方向角变化量。

进一步地，所述根据所述第一直线和所述第二直线的夹角，确定该边界点对应的方向角变化量包括：

识别所述第一直线和所述第二直线构成的预设夹角的度数，判断所述预设夹角的度数是否小于90度；

如果是，将所述预设夹角作为该边界点对应的方向角变化量；

如果否，将所述预设夹角的补角作为该边界点对应的方向角变化量。

进一步地，所述获取硅片图像之后，提取所述硅片的边界点之前，所述方法还包括：

定位所述硅片图像中的硅片区域，对所述硅片区域进行掩膜处理。