[发明专利]一种中子复合探测装置在审

专利信息
申请号: 201711204187.7 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN107966727A 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: 张庆威;王婷婷;马刚 申请(专利权)人: 中核控制系统工程有限公司
主分类号: G01T3/06 分类号: G01T3/06
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 张雅丁
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 中子 复合 探测 装置
【权利要求书】:

1.一种中子复合探测装置,其特征在于:包括铝壳(1)、氧化镁粉层(2)、塑料闪烁体(3)、6LiI(Eu)闪烁体(4)、光耦合剂(5)、密封胶(6)和石英玻璃(7);

所述的铝壳(1)为圆筒形状,用于避光与支撑;

所述的氧化镁粉层(2)均匀设于铝壳(1)的内侧壁上,用于反射闪烁光;

所述的塑料闪烁体(3)为筒状结构,设于氧化镁粉层(2)的内侧;

所述的6LiI(Eu)闪烁体(4)为实心圆柱体,设于塑料闪烁体(3)的内侧,且与塑料闪烁体(3)紧密贴合;

在所述的氧化镁粉层(2)、塑料闪烁体(3)和6LiI(Eu)闪烁体(4)的上表面通过涂覆一层光耦合剂(5)与石英玻璃(7)耦合。

在铝壳(1)的上表面通过设置一圈密封胶(6)将铝壳(1)与石英玻璃(7)密封固定。

2.如权利要求1所述的一种中子复合探测装置,其特征在于:所述的铝壳(1)、氧化镁粉层(2)、塑料闪烁体(3)和6LiI(Eu)闪烁体(4)共轴。

3.如权利要求2所述的一种中子复合探测装置,其特征在于:所述的铝壳(1)、氧化镁粉层(2)、塑料闪烁体(3)和6LiI(Eu)闪烁体(4)的上表面共面。

4.如权利要求3所述的一种中子复合探测装置,其特征在于:所述的铝壳(1)的厚度为0.5mm。

5.如权利要求4所述的一种中子复合探测装置,其特征在于:所述的氧化镁粉层(2)的厚度为1mm。

6.如权利要求5所述的一种中子复合探测装置,其特征在于:所述的塑料闪烁体(3)与6LiI(Eu)闪烁体(4)通过硅油耦合。

7.如权利要求6所述的一种中子复合探测装置,其特征在于:所述的光耦合剂(5)为硅油。

8.一种基于权利要求7所述中子复合探测装置的中子探测器,其特征在于:所述的中子复合探测装置与光电转换装置通过硅油耦合,后续连接电子学线路。

9.如权利要求8所述的一种中子探测器,其特征在于:在所述的光电转换装置外部设有避光壳。

10.如权利要求9所述的一种中子探测器,其特征在于:所述的中子探测器既能测量快中子,又能测量慢中子。

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