[发明专利]一种测试架、屏蔽效能测试系统及其测试方法在审

专利信息
申请号: 201711202538.0 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN107843793A 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 方文潮 申请(专利权)人: 广州力赛计量检测有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 梁顺宜,郝传鑫
地址: 511400 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 屏蔽 效能 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种测试架,其特征在于,包括接地平板、第一支撑板、第二支撑板、屏蔽管、接收天线和用于发射电磁波的发射天线;

所述第一支撑板固定连接在所述接地平板上,所述第二支撑板固定连接在所述接地平板上,所述第一支撑板上设有第一同轴连接器和第二同轴连接器,所述第二支撑板上设有第三同轴连接器和第四同轴连接器;

所述发射天线的一端连接在所述第一同轴连接器上,所述发射天线的另一端连接在所述第三同轴连接器上,所述接收天线的一端连接在所述第二同轴连接器上,所述接收天线的另一端连接在所述第四同轴连接器上;

所述屏蔽管的一端连接在所述第一支撑板上,所述屏蔽管的另一端连接在所述第二支撑板上,且所述接收天线套设在所述屏蔽管内。

2.如权利要求1所述的测试架,其特征在于,所述发射天线与所述接收天线平行,且所述屏蔽管的轴线与所述接收天线的轴线在同一条直线上。

3.如权利要求1所述的测试架,其特征在于,所述第一支撑板上和所述第二支撑板上均设有屏蔽管夹持件;

所述屏蔽管夹持件包括用于夹持所述屏蔽管的一端端部的第一夹持件和第二夹持件,所述第一夹持件上设有第一开口槽,所述第二夹持件上设有第二开口槽,且所述第一开口槽的开口与所述第二开口槽的开口相对设置;

在夹持所述屏蔽管时,所述第一夹持件和所述第二夹持件沿相对方向移动;在松开所述屏蔽管时,所述第一夹持件和所述第二夹持件沿相反方向移动。

4.如权利要求3所述的测试架,其特征在于,所述第一夹持件和所述第二夹持件上均设有条形通孔;

所述第一支撑板的所述第一夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第一支撑板上,所述第一支撑板的所述第二夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第一支撑板上;

所述第二支撑板的所述第一夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第二支撑板上,所述第二支撑板的所述第二夹持件通过所述条形通孔可上下移动地连接在所述第二支撑板上。

5.如权利要求3或4所述的测试架,其特征在于,所述第一开口槽呈V形,所述第二开口槽呈V形;或,所述第一开口槽呈弧形,所述第二开口槽呈弧形。

6.如权利要求1所述的测试架,其特征在于,所述第一支撑板上设有前后贯穿的第一通孔和第二通孔,所述第二支撑板上设有前后贯穿的第三通孔和第四通孔;

所述发射天线的一端穿过所述第一通孔与所述第一同轴连接器连接,所述发射天线的另一端穿过所述第三通孔与所述第三同轴连接器连接;

所述接收天线的一端穿过所述第二通孔与所述第二同轴连接器连接,所述接收天线的另一端穿过所述第四通孔与所述第四同轴连接器连接。

7.一种屏蔽效能测试系统,其特征在于,包括矢量网络分析仪、第一射频电缆、第二射频电缆以及如权利要求1~6任一项所述的测试架,所述矢量网络分析仪上设有信号输出端口和测量端口;

所述第一射频电缆的一端与所述矢量网络分析仪的信号输出端口电连接,所述第一射频电缆的另一端通过所述第一同轴连接器与所述发射天线的一端电连接;

所述第二射频电缆的一端与所述矢量网络分析仪的测量端口电连接,所述第二射频电缆的另一端通过所述第二同轴连接器与所述接收天线的一端电连接。

8.如权利要求7所述的屏蔽效能测试系统,其特征在于,所述第一同轴连接器上设有第一隔离衰减器,所述第二同轴连接器上设有第二隔离衰减器;

所述第一隔离衰减器的一端与所述发射天线的一端电连接,所述第二隔离衰减器的一端与所述接收天线的一端电连接;

所述第一射频电缆的另一端与所述第一隔离衰减器的另一端电连接,所述第二射频电缆的另一端与所述第二隔离衰减器的另一端电连接。

9.如权利要求7或8所述的屏蔽效能测试系统,其特征在于,所述第三同轴连接器上设有第一终端负载,所述第四同轴连接器上设有第二终端负载;

所述第一终端负载与所述发射天线的另一端电连接,所述第二终端负载与所述接收天线的另一端电连接。

10.一种屏蔽效能测试方法,其特征在于,适用于如权利要求7~9任一项所述的屏蔽效能测试系统,包括以下步骤:

S1,不安装所述屏蔽管时,调整所述矢量网络分析仪为测量插入衰减模式;

S2,通过所述矢量网络分析仪测量第一插入衰减值S21o

S3,将所述屏蔽管套住所述接收天线,通过所述矢量网络分析仪测量第二插入衰减值S21s

S4,计算所述屏蔽管的屏蔽效能S,其中,S=S21o-S21s

S5,调整所述发射天线的发射频率,在至少10个不同发射频率下,重复步骤S1~S4,获得对应发射频率的所述屏蔽管的屏蔽效能Si;

S6,将所述发射天线的发射频率分为若干个频段,以计算所述屏蔽管在不同频段内的屏蔽效能的平均值

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