[发明专利]一种基于椭球拟合的磁力计校正方法有效

专利信息
申请号: 201711202294.6 申请日: 2017-11-27
公开(公告)号: CN107870001B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 陈熙源;舒南樟;邵鑫;石春凤 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 常虹
地址: 210088 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 椭球 拟合 磁力计 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种基于椭球拟合的磁力计校正方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)根据磁力计所受到误差影响,建立磁力计误差模型:

其中是磁力计的输出矢量,Bb是当地磁场矢量在载体坐标系中的分量,b0是总偏置误差矢量,M=CmCnCs(I3×3+Csi)是总变换矩阵,Cs是比例因子误差矩阵,Cm是安装误差矩阵,Cn是非正交误差矩阵,Csi是软磁误差矩阵,I3×3是3×3维单位矩阵,M-1为矩阵M的逆矩阵;

(2)根据磁力计误差特性以及收集到的磁力计测量数据,将磁力计误差模型转化为磁力计椭球误差模型;

(3)计算磁力计椭球误差模型中的参数,并计算出椭球拟合的残差;

(4)根据残差的统计信息确定满意区间,并计算满意值、满意区间概率,所述满意值为服从正态分布的变量落入满意区间的概率,满意区间概率为测量数据落入满意区间的概率,当满意区间概率小于根据正态分布所求的满意值,去除去噪点,返回步骤(3)利用剩余数据重新计算磁力计椭球误差模型中的参数,并计算出椭球拟合的残差,再次执行步骤(4),直到满意区间概率大于根据正态分布所求的满意值,进而求出椭球拟合的误差,完成磁力计校正;;

步骤(2)中磁力计椭球误差模型的代数形式为:

其中α=(a,b,c,d,e,f,p,q,r,s)为椭球参数,v为磁力计误差模型中的磁力计的输出矢量vx,vy,vz分别为v在三维坐标系中三个坐标轴上的分量;

所述椭球拟合的残差R为:R=S*α0;其中S为磁力计输出的N个测量值构成的矩阵,S=(v1,v2,v3,...,vN),vi是第i个测量值;其中α′=(a′,b′,c′,d′,e′,f′,p′,q′,r′,s′)为步骤(3)中计算得到的磁力计椭球误差模型中的参数,α′(10)是α′的第10列的元素,即α′(10)=s′,X0为椭球球心,

2.根据权利要求1所述的基于椭球拟合的磁力计校正方法,其特征在于,通过最小二乘法计算磁力计椭球误差模型中的椭球参数α。

3.根据权利要求1所述的基于椭球拟合的磁力计校正方法,其特征在于,步骤(4)包括如下步骤:

(4.1)求出椭球拟合残差的平均值和标准差

(4.2)确定满意区间为计算满意区间概率P,P为测量数据落入满意区间的概率;计算满意值Q,Q为服从正态分布的变量x落入满意区间的概率;

(4.3)若概率P大于满意值Q,可直接进行椭球误差的求解;若概率P小于满意值Q,则去掉测量数据在满意区间之外的点,然后返回步骤(3)利用剩余数据重新计算磁力计椭球误差模型中的参数,并计算出椭球拟合的残差,再次执行步骤(4),对残差结果进行分布计算分析,直到概率P大于满意值Q,进而求出椭球拟合的误差。

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