[发明专利]一种电源器件ATE检测工艺在审
申请号: | 201711192758.X | 申请日: | 2017-11-24 |
公开(公告)号: | CN107976595A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 李董;李阳;李涛 | 申请(专利权)人: | 江苏凯源电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214400 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电源 器件 ate 检测 工艺 | ||
1.一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1、调出待测试单体的测试程序;
步骤2、取流水线上的单体插入治具上;
步骤3、接好USB测试输出连接线后,按绿色“F10”键开始测试;
步骤4、测试结果显示PASS的为良品;
步骤5、显示FAIL的为不良品,贴上不良标签填写不良内容放在不良胶框内;
步骤6、将测试OK的完成品自检合格后轻放输送带流下工程。
2.根据权利1所述的一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,在上述步骤3中,ATE检测设备的输出电压为12V。
3.根据权利1所述的一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,在进行实验前,点检测试机及样品机是否合格.并记录于点检表,所要检测的产品不能堆积在一起且拿取时需轻拿轻放.避免碰撞发生机壳刮伤。
4.根据权利1所述的一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,根据被测产品以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形,包括:利用软件开发工具编写测试代码,所述测试代码包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码序列中的至少一种,以及所述预定测试功能所涉及的所述被测集成电路的其他管脚的信息。
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