[发明专利]空气颗粒物的检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 201711185946.X 申请日: 2017-11-23
公开(公告)号: CN107831099A 公开(公告)日: 2018-03-23
发明(设计)人: 张志伟 申请(专利权)人: 北京是卓科技有限公司
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06;G01N15/02;G01N15/00
代理公司: 北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙)11504 代理人: 李之壮
地址: 102200 北京市昌*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 空气 颗粒 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种空气颗粒物的检测装置,其特征在于,包括:

可切换波长光源单元(1),所述可切换波长光源单元(1)用于发射光线;

散射均光片单元(2),所述散射均光片单元(2)位于所述可切换波长光源单元(1)的下方,所述散射均光片单元(2)用于对光线进行漫散射,产生漫散射光;

散射腔单元(4),所述散射腔单元(4)位于所述可切换波长光源单元(1)的下方并位于所述散射均光片单元(2)的下侧,在所述散射腔单元(4)的左侧面上设有第一微孔,在所述散射腔单元(4)的右侧面上设有第二微孔,在所述散射腔单元(4)内流经有待测气体,所述待测气体内含有悬浮颗粒物(3);

陷光肼单元(5),所述陷光肼单元(5)位于所述散射腔单元(4)的左侧,在所述陷光肼单元(5)内设有光学折射单元(12)和第一光阑单元(6),在所述第一光阑单元(6)上设有第三微孔,所述第一光阑单元(6)位于所述第一微孔和所述光学折射单元(12)之间,所述陷光肼单元(5)用于消除杂散光;

测量室单元(7),所述测量室单元(7)位于所述散射腔单元(4)的右侧,在所述测量室单元(7)内设有第二光阑单元(13),在所述第二光阑单元(13)上设有第四微孔,所述第一微孔、所述第二微孔、所述第三微孔、所述第四微孔在同一水平面上,所述测量室单元(7)用于限定测量体积及消除杂散光;

光检测单元(10),所述光检测单元(10)和所述测量室单元(7)相连;

计算机系统单元(11),所述计算机系统单元(11)和所述光检测单元(10)相连。

2.根据权利要求1所述的空气颗粒物的检测装置,其特征在于,还包括:

遮光片单元(9),所述遮光片单元(9)可旋转地设在散射腔单元(4)内,并位于所述散射均光片单元(2)的右端。

3.根据权利要求1或2所述的空气颗粒物的检测装置,其特征在于:

在所述测量室单元(7)内活动安装有光学快门单元(8),所述光学快门单元(8)位于所述第二微孔的上方。

4.根据权利要求1或2所述的空气颗粒物的检测装置,其特征在于:

在所述散射腔单元(4)内设有压力传感器,用于实时测量所述待测气体的压力,所述压力传感器和所述计算机系统单元(11)相连。

5.根据权利要求1或2所述的空气颗粒物的检测装置,其特征在于:

在所述散射腔单元(4)内设有温度传感器,用于实时测量所述待测气体的温度,所述温度传感器和所述计算机系统单元(11)相连。

6.根据权利要求1或2所述的空气颗粒物的检测装置,其特征在于:

在所述散射腔单元(4)内设有湿度传感器,用于实时测量所述待测气体的湿度,所述湿度传感器和所述计算机系统单元(11)相连。

7.根据权利要求1或2所述的空气颗粒物的检测装置,其特征在于,还包括:

校准模块单元,所述校准模块单元和所述计算机系统单元(11)相连,用于自动校准零点和标点。

8.根据权利要求1或2所述的空气颗粒物的检测装置,其特征在于,还包括:

外围气路设备,所述外围气路设备和所述散射腔单元(4)相连,用于将所述待测气体实时通入所述散射腔单元(4)内。

9.根据权利要求1至8任意一项所述的空气颗粒物的检测装置的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一、所述可切换波长光源单元(1)发射出某一特定波长的光线,并照射到所述散射均光片单元(2)上进行漫散射,产生漫散射光;

步骤二、所述漫散射光照射到流经所述散射腔单元(4)内的所述悬浮颗粒物(3)上,进一步产生散射光;

步骤三、在轴向上直射到非测量端的散射光进入到所述陷光肼单元(5)内后,照射到光学折射单元(12)上进行散射,其散射光被陷光肼单元(5)内的第一光阑单元(6)进行遮挡和消除;

步骤四、在轴向上的散射光经过所述测量室单元(7)到达所述光检测单元(10)上产生电信号;

步骤五、所述电信号传递至所述计算机系统单元(11),经过计算处理后得到所述散射腔单元(4)内的悬浮颗粒物(3)的实时数量。

10.根据权利要求9所述的检测方法,其特征在于:

在步骤四中,所述测量室单元(7)内的所述第二光阑单元(13)对散射光进行二次消除。

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