[发明专利]一种智能闭环系统

权利要求书

1.一种智能闭环系统，其特征在于，包括：

加工设备，用于对物料进行加工处理；

检测设备，用于检测经过所述加工设备加工的物料，得到检测结果；

数据分析服务器，用于根据预置的工艺逻辑分析所述检测结果，得到分析结果，并根据所述分析结果向所述加工设备反馈调整指令，使得所述加工设备根据所述调整指令进行调整。

2.根据权利要求1所述的智能闭环系统，其特征在于，所述数据分析服务器还用于根据N个所述检测结果，实现工件缺陷定位以及所述加工设备联动校准，所述N为大于1的整数。

3.根据权利要求1所述的智能闭环系统，其特征在于，所述加工设备包括印刷设备、贴片设备、回流炉设备、插件设备、波峰焊设备、压接设备、装配设备和在线温循设备。

4.根据权利要求3所述的智能闭环系统，其特征在于，所述检测设备包括锡膏印刷检测SPI设备、炉前自动光学检查AOI设备、炉后AOI设备、自动X射线检测AXI设备、在线检测ICT设备、功能测试FT设备。

5.根据权利要求4所述的智能闭环系统，其特征在于，所述智能闭环系统包括第一微闭环、第二微闭环、第三微闭环、第四微闭环、第五微闭环、第六微闭环和第七微闭环，所述第一微闭环包括所述印刷设备和所SPI设备，所述第二微闭环包括所述SPI设备和所述贴片设备，所述第三微闭环包括所述贴片设备和所述炉前AOI设备，所述第四微闭环包括炉前AOI设备所述和所述回流炉设备，所述第五微闭环包括所述回流炉设备和所述炉后AOI设备，所述第六微闭环包括所述插件设备、所述波峰焊设备、所述压接设备、所述ICT设备和所述装配设备，所述第七微闭环包括所述FT设备和所述在线温循设备。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的智能闭环系统，其特征在于，所述数据分析服务器包括：

比对单元，用于将所述检测结果和预置的标准模型进行比对，得出比对结果；

分析单元，用于根据所述工艺逻辑分析所述比对结果，得到调整指令；

反馈单元，用于向所述加工设备反馈所述调整指令。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的智能闭环系统，其特征在于，所述加工设备包括：

第一识别单元，用于识别所述物料上的身份信息；

加工单元，用于对所述物料进行加工处理。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的智能闭环系统，其特征在于，所述检测设备包括：

第二识别单元，用于识别所述物料的身份信息；

检测单元，用于检测所述物料，得到检测结果。

9.根据权利要求1至5中任一项所述的智能闭环系统，其特征在于，所述智能闭环系统还包括：

显示设备，用于显示所述检测结果和/或所述分析结果。

10.根据权利要求1至5中任一项所述的智能闭环系统，其特征在于，所述检测结果包括所述物料的实时检测信息和所述物料的图片信息。