[发明专利]显示面板检测方法与装置

权利要求书

1.一种显示面板检测方法，其特征在于，包括下列步骤：

依序驱动显示面板的像素电路，以取得多个像素电荷量和多个像素位置信息；

根据所述多个像素位置信息，对所述多个像素电荷量进行排列，以产生图文件信息；

将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换为灰阶信息并进行对比及亮度调整，以产生第一检测信息，其中还包括下列步骤：

将所述多个像素电荷量依大小等比例转换为具有明暗的灰阶信息；

对所述灰阶信息进行对比及亮度调整，以产生影像调整信息；

对所述影像调整信息进行分析，以产生所述第一检测信息，之后还包括导入所述显示面板设计时的光罩数据、制程设备指纹、各站点制成分布特性、TEG电性检测结果，并所述第一检测信息与所述光罩数据进行整合以及将所述第一检测信息与所述制程设备指纹、所述各站点制成分布特性、所述TEG电性检测结果进行比对分析，以产生对应的分析结果，其中所述制程设备指纹包括制程设备的接脚，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系，所述各站点制成分布特性包括在显示面板的中间跟周围所导入的电浆的分布特性，其与显示面板的像素电路的像素有对应关系；以及

将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生第二检测信息。

2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，还包括导入标准化TEG测试键，且设定所述标准化TEG测试键之间的关联性，再通过所述标准化TEG测试键量测所述显示面板的电性分布特性并进行分析，产生所述TEG电性检测结果，且将所述TEG电性检测结果与所述光罩数据进行分析及比对。

3.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，将所述图文件信息中的所述多个像素电荷量转换并与基准值进行比对，以产生所述第二检测信息的步骤中，还包括下列步骤：

将所述多个像素电荷量各自转换成电压值；以及

将所述多个电压值与基准值进行比对，取得电压差异信息，并记录电压差异信息及其对应像素的位置，以产生所述第二检测信息。

4.根据权利要求3所述的显示面板检测方法，其特征在于，产生所述第二检测信息的步骤之后，还包括下列步骤：

将所述像素电路的所述像素进行点亮，取得点亮画面，并对所述点亮画面进行强化处理，以取得点亮强化画面；

根据所述点亮画面与所述点亮强化画面，取得所述像素电路的所述像素点亮时的亮度差异信息；以及

将所述亮度差异信息与所述第二检测信息中的电压差异信息进行比对，以取得电压补偿信息。

5.根据权利要求4所述的显示面板检测方法，其特征在于，取得所述电压补偿信息的步骤之后，还包括下列步骤：

将所述电压补偿信息传送到显示面板的芯片，以进行补偿操作。

6.根据权利要求3所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述基准值为所述多个电压值中占最多数量的电压值。