[发明专利]基于量子弱测量的光学测量仪以及样品折射率、旋光谱和手性分子对映体含量测量分析方法

权利要求书

1.一种基于量子弱测量的光学测量仪，其特征在于包括光发生装置(1)、偏振态制备器(2)、棱镜(3)、样品(4)、第一偏振态选择器(5)、第二偏振态选择器(7)、第一光接收装置(6)、第二光接收装置(8)；所述样品(4)设计有光入射面和光出射面，其光入射面与棱镜(3)的一个侧面相贴合；由光发生装置(1)出射的光束经偏振态制备器(2)、棱镜(3)入射到样品(4)的光入射面，产生反射光束和折射光束，反射光束经第一偏振态选择器(5)由第一光接收装置(6)接收，折射光束经第二偏振态选择器(7)由第二光接收装置(8)接收；

入射到样品(4)光入射面的光束偏振态为前选择量子态，反射光束经第一偏振态选择器(5)后的光束偏振态为第一后选择量子态，折射光束经第二偏振态选择器(7)后的光束偏振态为第二后选择量子态；入射光路中的前选择量子态与反射光路中的第一后选择量子态之间构成第一量子弱测量光路部分，入射光路中的前选择量子态与折射光路中的第二后选择量子态之间构成第二量子弱测量光路部分。

2.根据权利要求1所述基于量子弱测量的光学测量仪，其特征在于所述第一后选择量子态与前选择量子态之间的夹角为90°±△’，△’不大于5°；所述第二后选择量子态与前选择量子态之间的夹角为90°±△’，△’不大于5°。

3.根据权利要求1或2所述基于量子弱测量的光学测量仪，其特征在于所述光发生装置(1)包括光源发生器(11)以及设置于光源发生器出射光路上的能量调节器(12)和第一光束变换器(13)；所述光源发生器(11)为激光器、激光二极管、超辐射发光二极管、白光发生器、量子光源发生器；所述能量调节器(12)为二分之一波片或中性衰减片；所述第一光束变换器(13)为单个透镜或多个透镜组成的透镜组。

4.根据权利要求1或2所述基于量子弱测量的光学测量仪，其特征在于所述偏振态制备器(2)为偏振器或者偏振器与四分之一波片、相位补偿器组合中的一种；所述第一偏振态选择器(5)、第二偏振态选择器(7)结构相同或者不同，为偏振器或者偏振器与四分之一波片、相位补偿器组合中的一种；所述偏振器为格兰激光偏振棱镜或偏振分光镜。

5.根据权利要求1或2所述基于量子弱测量的光学测量仪，其特征在于所述第一光接收装置(6)包括第一光电探测器(62)以及位于第一光电探测器前方的第二光束变换器(61)；所述第二光接收装置(8)包括第二光电探测器(82)以及位于第二光电探测器前方的第三光束变换器(81)；所述第一光电探测器(62)、第二光电探测器(82)结构相同或者不同，为实现弱光探测的电荷耦合元件、光谱仪、光电倍增管、位置敏感探测器、四象限探测器中的一种；所述第二光束变换器(61)、第三光束变换器(81)结构相同或者不同，为单个透镜或多个透镜组成的透镜组；所述第二光束变换器(61)的等效焦距大于第一光束变换器(13)的等效焦距，第一光束变换器(13)与第二光束变换器(61)构成共焦系统；所述第三光束变换器(81)的等效焦距大于第一光束变换器(13)的等效焦距，第一光束变换器(13)与第三光束变换器(81)构成共焦系统。