[发明专利]一种霍尔元件的制备方法在审

专利信息
申请号: 201711166888.6 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN107978672A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 何渊;胡双元 申请(专利权)人: 苏州矩阵光电有限公司
主分类号: H01L43/14 分类号: H01L43/14;H01L43/04
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司11250 代理人: 张建纲
地址: 215614 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 霍尔 元件 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种霍尔元件的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、在铜箔基底(8)上旋涂一层光刻胶再覆盖掩膜版曝光显影,对所述铜箔基底(8)进行刻蚀;

S2、将所述铜箔基底(8)放入化学气相沉积反应室,通入甲烷和氢气形成石墨烯(2);

S3、通过鼓泡法将所述石墨烯(2)转移至Si衬底(1)上形成有源区;

S4、在所述Si衬底(1)和所述石墨烯(2)表面整体生长一层钝化层(7);

S5、对所述钝化层(7)开口后蒸镀金属,以形成霍尔元件的电流电压激励输入电极(3)、电流电压激励输出电极(4)以及第一霍尔电压输出电极(5)、第二霍尔电压输出电极(6)。

2.根据权利要求1所述的霍尔元件的制备方法,其特征在于,所述铜箔基底(8)上刻蚀出的形状为十字状。

3.根据权利要求1所述的霍尔元件的制备方法,其特征在于,所述石墨烯(2)为单层或多层石墨烯。

4.根据权利要求1所述的霍尔元件的制备方法,其特征在于,所述Si衬底(1)表面覆有SiO2层,所述Si衬底(1)为绝缘衬底。

5.根据权利要求1所述的霍尔元件的制备方法,其特征在于,所述钝化层(7)的材料为SiO2或SiNx

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