[发明专利]一种计算机硬件综合测试台在审

专利信息
申请号: 201711160237.6 申请日: 2017-11-20
公开(公告)号: CN107977291A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 李伟;葛超;王旭生;安逸;贾成会;孙艳彬 申请(专利权)人: 华北理工大学
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙)61223 代理人: 韩晓娟
地址: 063210 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 计算机硬件 综合测试
【说明书】:

技术领域

发明涉及于计算机设备技术领域,特别涉及一种计算机硬件综合测试台。

背景技术

目前计算机硬件检测与维修当中,没有能够直接体现计算机硬件电子流程,信号传递,故障演示,现场判断与维修的实训设备。许多高等院校与中职学校仍然使用常规判断方法,缺乏科学性和安全性,同时这种计算机硬件测试台存在着工作效率低,测试不方便,使用不灵活,也不能够根据测试人员的身高随意调节,适用性差,可靠性低,不方便测试人员进行计算机硬件稳定性测试,还有现有的测试台存在着检测完后不能及时维修,如有废用零件无处处理的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种计算机硬件综合测试台,以解决上述背景技术中提出的问题。

本发明提供了一种计算机硬件综合测试台,包括测试箱体,所述测试箱体的上表面为开口结构,所述测试箱体的上面设有顶板,所述顶板的底面连接有第二伸缩杆,所述第二伸缩杆通过套管活动连接有第一伸缩杆,所述第一伸缩杆的另一端设置在所述测试箱体内的底面上;所述套管的两侧均螺纹连接有丝杠,所述丝杠上螺纹连接有螺纹座,所述螺纹座上对称连接有上连接杆和下连接杆,所述上连接杆的另一端与顶板的底面铰接,所述下连接杆与设置在测试箱体内的连接块铰接;所述丝杠与设置测试箱体内的电机通过转轴连接;所述顶板上设有第一测试柜、第二测试柜和第三测试柜;所述测试箱体的右侧设置有检测箱体,所述检测箱体内设有升降杆,所述升降杆的顶端与设置在检测箱体上的检测台连接;所述检测台上设有开口,所述开口与设置在检测箱体右侧的废品存放箱贯通。

较佳地,所述第一测试柜上设有显示屏插槽。

较佳地,所述第二测试柜上设有硬盘插槽、CPU插槽和鼠标键盘放置板。

较佳地,所述第三测试柜包括显示器、控制芯片和接收器;所述显示器与控制芯片电性连接,所述控制芯片与接收器电性连接。

较佳地,所述检测台上设有凹槽,所述凹槽内通过滑块滑动连接有照明灯。

较佳地,所述检测台上通过竖直杆连接有去污喷头和吸尘干燥口。

较佳地,所述检测箱体上设有抽屉。

本发明和现有技术相比,其优点在于:

本发明提供的一种计算机硬件综合测试台,通过第一测试柜、第二测试柜和第三测试柜的设置,可以方便灵活检测相应的计算机硬件;通过电机带动丝杠,丝杠带动螺纹座左右移动,从而可以方便带动顶板的生气或者下降,从而满足了不同身高的工作人员进行测试;检测台的设置,方便了检测后的维修,同时检测台上设置的开口,有利于废品零件的处理。

附图说明

图1为本发明提供的一种计算机硬件综合测试台结构示意图。

附图标记说明:

1、测试箱体;2、顶板;3、第一伸缩杆;4、第二伸缩杆;5、套管;6、丝杠;7、螺纹座;8、上连接杆;9、下连接杆;10、连接块;11、第一测试柜;12、第二测试柜;13、第三测试柜;14、显示屏插槽;15、硬盘插槽;16、CPU插槽;17、鼠标键盘放置板;18、显示屏;19、控制芯片;20、接收器;21、检测箱体;22、升降杆;23、检测台;24、凹槽;25、照明灯;26、开口;27、废品存放箱;28、竖直杆;29、去污喷头;30、吸尘干燥口;31、抽屉。

具体实施方式

下面结合附图,对本发明的一个具体实施方式进行详细描述,但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。

如图1所示,本发明实施例提供了一种计算机硬件综合测试台,包括测试箱体1,测试箱体1的上表面为开口结构,测试箱体1的上面设有顶板2,顶板2的底面连接有第二伸缩杆4,第二伸缩杆4通过套管5活动连接有第一伸缩杆3,第一伸缩杆3的另一端设置在测试箱体1内的底面上;套管5的两侧均螺纹连接有丝杠6,丝杠6上螺纹连接有螺纹座7,螺纹座7上对称连接有上连接杆8和下连接杆9,上连接杆8的另一端与顶板2的底面铰接,下连接杆9与设置在测试箱体1内的连接块10铰接;丝杠6与设置测试箱体1内的电机通过转轴连接;顶板2上设有第一测试柜11、第二测试柜12和第三测试柜14;测试箱体1的右侧设置有检测箱体21,检测箱体21内设有升降杆22,升降杆22的顶端与设置在检测箱体21上的检测台23连接;检测台23上设有开口26,开口26与设置在检测箱体21右侧的废品存放箱27贯通。

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