[发明专利]多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统及方法

说明书

技术领域

本发明属于时序逻辑控制领域，尤其涉及一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统及方法。

背景技术

在天线或RCS测试系统中，测试需求和方法已经多样化，涉及多探头扫描、天线多波束状态等情形的深入测试应用，自动化测试系统的复杂度在提高，所用仪器设备数量也在增加，在测试工作流程中，为了使多仪器设备按照需求进行相互协调工作，各仪器设备工作的时序性越来越重要。

为了快速高效测试，一般仪器设备都具有硬件脉冲的接收和发射接口，支持仪器和外部仪器设备之间进行脉冲的交互，通过相互触发的方式来快速完成测试任务，而这种方式只支持系统复杂度低，仪器设备少的系统解决方案。对于复杂度高，仪器设备多的系统，仪器已经没有支持多仪器设备的脉冲扩展接口和支持该工作流程的时序逻辑，更无关于此的二次开发接口。针对该应用情形，一般都不再依赖硬件脉冲触发的方式，而对仪器设备采用软件查询的方式来完成。该方案中，各仪器设备均通过LAN的方式与主控上位机相连，上位机通过对仪器发送查询指令，等待仪器应答，待等到仪器为所需的状态后，才对该仪器或其他仪器进行操作。其中，软件操作过程均按照测试流程的时序进行。

仪器设备交互工作的时序由软件控制时，自动化测试过程中软件查询方法，会有应答数据的发送和接收，另外也需要多的额外操作指令，特别是查询过程是持续不断的，直至一个查询工作中得到所需的状态信息。由此，会大量增加上位机和仪器设备的软件开销，造成测试操作过程速率降低，特别是测试数据量大的情况下，严重影响了测试效率。在系统软件开发中，也需要额外考虑测试过程中，仪器工作的时序控制，也增加了软件开发的复杂度。

综上所述，在多仪器设备的系统中，如何使多台仪器交互协调工作，正确高效完成自动化测试是系统方案设计的关键问题。

发明内容

为了解决现有技术的不足，本发明的第一目的是提供一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统。该系统考虑到硬件脉冲触发方式比软件控制效率高的优点，采用硬件脉冲时序控制的方法，外部为仪器设备提供一个集中管理的时序控制的电扫装置，支持多仪器的交互协调工作。

本发明的一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统，包括机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器；

所述机械设备，被配置为移动至预设机械位并向电扫装置发送同步脉冲；

所述电扫装置，被配置为接收到同步脉冲信号后向信号源设备发送触发脉冲，并将信号源设备切换到预设测试频点所需的频率；同时还向波控设备发送波位触发信号；

所述测试仪器，被配置为根据接收到的数据采集触发脉冲，在预设硬件通道内完成数据采集。

进一步的，当需要测试的硬件通道至少有两个时，测试仪器预设硬件通道完成数据采集后，测试仪器被配置为向电扫装置发送完操作完成脉冲；所述电扫装置还被配置为接收到完操作完成脉冲后切换到其他硬件通道，直至完成当前机械位下的所有硬件通道所有波位所有测试频点的测试。

进一步的，所述机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器均与上位机相互通信，上位机用于对机械设备、电扫装置、信号源设备、波控设备和测试仪器分别进行初始化。

进一步的，所述机械设备包括扫描架和转台。

进一步的，所述测试仪器包括矢量网络分析仪和频谱仪。

本发明的第二目的是提供一种多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统的控制方法。

本发明的多仪器设备测试系统的硬件脉冲时序逻辑控制系统的控制方法，包括：

步骤1：机械设备移动到预设机械位处，并向电扫装置发送同步脉冲；

步骤2：电扫装置接收到同步脉冲信号后向信号源设备发送触发脉冲，并将信号源设备切换到预设测试频点所需的频率；同时，电扫装置向波控设备发送波位触发信号，波控设备接收到触发信号后切换到预设波位；

步骤3：在当前测试频点的预设波位处，电扫装置向测试仪器发送数据采集触发脉冲，在预设硬件通道内完成数据采集；

步骤4：重复上述步骤，直至完成相应测试仪器的当前机械位下的所有硬件通道所有波位所有测试频点的测试。

进一步的，当需要测试的硬件通道至少有两个时，测试仪器预设硬件通道完成数据采集后，测试仪器向电扫装置发送完操作完成脉冲，由电扫装置接收到完操作完成脉冲后切换到其他硬件通道，直至完成当前机械位下的所有硬件通道所有波位所有测试频点的测试。