[发明专利]图像传感器及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201711146920.4 申请日: 2017-11-17
公开(公告)号: CN107946330A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 吴明;吴孝哲;林宗贤;吴龙江;薛超;朱晓彤 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 张振军,吴敏
地址: 223302 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 图像传感器 及其 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种图像传感器的形成方法,其特征在于,包括以下步骤:

提供半导体衬底,所述半导体衬底内具有光电二极管有源层;

在所述半导体衬底的表面形成牺牲层;

刻蚀所述牺牲层以及所述半导体衬底,以形成深沟槽,所述深沟槽至少贯穿所述光电二极管有源层的一部分;

形成深槽隔离层,所述深槽隔离层覆盖所述深沟槽的内壁;

向所述深沟槽内填充金属,以形成金属格栅。

2.根据权利要求1所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,还包括:

去除所述牺牲层;

形成格栅保护层,所述格栅保护层覆盖所述金属格栅、所述深槽隔离层以及所述半导体衬底;

在相邻的金属格栅之间设置滤镜。

3.根据权利要求2所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,所述去除所述牺牲层包括:

平坦化所述牺牲层、所述深槽隔离层以及所述金属格栅;

去除平坦化后的所述牺牲层。

4.根据权利要求1所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,所述形成深槽隔离层包括:

采用原子层沉积工艺形成所述深槽隔离层。

5.根据权利要求1所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,在所述半导体衬底的表面形成牺牲层之前,还包括:

形成衬底保护层;

其中,所述牺牲层堆叠于所述衬底保护层。

6.根据权利要求1所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,

所述牺牲层的材料包括多晶硅。

7.根据权利要求1所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,向所述深沟槽内填充金属之前,还包括:

形成阻挡层,所述阻挡层覆盖所述深槽隔离层的表面。

8.根据权利要求7所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,

所述阻挡层的材料包括氮化钛,其中,所述氮化钛是采用TiCl4形成的。

9.根据权利要求1所述的图像传感器的形成方法,其特征在于,向所述深沟槽内填充金属包括:

采用化学气相沉积工艺,向所述深沟槽内填充钨。

10.一种图像传感器,其特征在于,包括:

半导体衬底,所述半导体衬底内具有光电二极管有源层;

牺牲层,位于所述半导体衬底的表面;

深沟槽,位于所述牺牲层和所述半导体衬底内,所述深沟槽至少贯穿所述光电二极管有源层的一部分;

深槽隔离层,所述深槽隔离层覆盖所述深沟槽的内壁;

金属格栅,所述金属格栅填充于所述深沟槽内。

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