[发明专利]数据存储装置及其操作方法

说明书

本发明涉及一种数据存储装置，其包括：非易失性存储器装置；电源管理单元，其适于输出第一低电压检测信号和第二低电压检测信号，每个低电压检测信号表示源电压的电压电平等于或低于预定参考电压电平；以及处理器，其适于计算第一低电压检测信号和第一低电压检测信号之前的第二低电压检测信号之间的检测间隔，将计算出的检测间隔与预定阈值检测间隔进行比较，并基于比较结果确定管理根据低电压生成的恢复操作的执行的主体。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年2月9日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2017-0018090的韩国申请的优先权，其全部内容通过引用并入本文。

技术领域

各个实施例总体涉及一种半导体装置，更特别地，涉及一种数据存储装置及其操作方法。

背景技术

近来，计算机环境范例已经转变为普适计算，因此能够在任何时间和任何地点使用计算机系统。由于这个事实，诸如移动电话、数码相机和笔记本计算机的便携式电子装置的使用已经迅速增加。通常，便携式电子装置使用利用存储器装置来存储待在便携式电子装置中使用的数据的数据存储装置(也称为存储器系统)。

因为使用存储器装置的数据存储装置不包括机械驱动单元，所以其具有优异的稳定性和耐久性。此外，使用存储器装置的数据存储装置的优点在于它可更快速地访问数据并消耗更少的电力。具有这种优点的数据存储装置的非限制性示例包括通用串行总线(USB)存储器装置、具有各种接口的存储卡、通用闪速存储(UFS)装置以及固态驱动器(SSD)。

发明内容

各个实施例涉及一种数据存储装置及其操作方法，该数据存储装置即使在频繁地生成低电压的情况下也能够稳定地操作。

在实施例中，数据存储装置可包括：非易失性存储器装置；电源管理单元，其适于输出第一低电压检测信号和第二低电压检测信号，每个低电压检测信号表示源电压的电压电平等于或低于预定参考电压电平；以及处理器，其适于计算第一低电压检测信号和第一低电压检测信号之前的第二低电压检测信号之间的检测间隔，将计算出的检测间隔与预定阈值检测间隔进行比较，并基于比较结果确定管理根据低电压生成的恢复操作的执行的主体。

在实施例中，一种数据存储装置的操作方法可包括：确定是否接收到包括第一低电压检测信号和第二低电压检测信号的低电压检测信号，每个低电压检测信号表示源电压的电压电平等于或低于预定参考电压电平；计算第一低电压检测信号和第一低电压检测信号之前的第二低电压检测信号之间的检测间隔；以及基于计算出的检测间隔和预定阈值检测间隔之间的比较结果来确定管理根据低电压生成的恢复操作的执行的主体。

根据实施例，基于检测低电压电平的间隔，可确定是通过来自主机装置的指令执行恢复操作还是在数据存储装置中独立地执行恢复操作。

因此，可以防止由于低电压的频繁生成造成的数据存储装置的频繁重置所导致的整个系统的瓶颈现象的发生。

附图说明

图1是示出根据本公开的实施例的数据存储装置的框图。

图2是示出处理器将低电压检测信号和与其匹配的相应序列号存储在低电压检测表中，并参考该低电压检测表以计算检测间隔的操作的简图。

图3是示出根据本公开的实施例的低电压检测表的示例的简图。

图4是示出根据本公开的实施例的数据存储装置的操作方法的流程图。

图5是示出根据本公开的实施例的包括固态驱动器(SSD)的数据处理系统的示例的简图。

图6是示出图5所示的控制器的示例的简图。

图7是示出根据本公开的实施例的包括数据存储装置的数据处理系统的示例的简图。

图8是示出根据本公开的实施例的包括数据存储装置的数据处理系统的示例的简图。