[发明专利]一种高压电气设备一体化测试系统电源

说明书

技术领域

本发明涉及电源设计技术领域，特别涉及一种高压电气设备一体化测试系统电源。

背景技术

高压电气设备的测试一般包括直流电阻测试、变压器变比测试、线路参数测试、变压器损耗测试、变压器容量测试、变压器短路阻抗测试、介质损耗测试、避雷器带电参数测试等。

电气测试中需要输出的是电流值、电压值，需要测量的也是电流值和电压值。通过对输出的电流值、电压值和试品上获得电流值、电压值甚至相位的变化进行测量和分析来判断试品的电气性能。

如果想同时满足直流电阻测试、变压器变比测试、线路参数测试、变压器损耗测试、变压器容量测试、变压器短路阻抗测试、介质损耗测试、避雷器带电参数测试的测试需要，则需要提供一种能够同时输出两路不同频率的电源，用以分别输出测试电流和电压。

发明内容

为了解决背景技术中所述问题，本发明提供一种高压电气设备一体化测试系统电源，可以同时输出两种频率电源，用于高压电气设备的测试，一路高频电源输出至待测电气设备上，用以向待测电气设备提供高频电流，一路低频电源输出至待测电气设备上，用以向待测电气设备提供低频电压。同时，这两路输出的频率和相位还可以由单片机进行自由调节。满足高压电气设备一体化测试的多种供电需要。

为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案实现：

一种高压电气设备一体化测试系统电源，为高压电气设备的测试提供测试电源，包括连接于交流电源端的整流滤波电路以及整流滤波电路输出端连接的逆变主电路和逆变控制回路。

所述的逆变主电路包括第一逆变电路和第二逆变电路以及低通滤波电路，第一逆变电路输出侧连接低通滤波电路，低通滤波电路输出低频电源，第二逆变电路输出高频电源。

所述的逆变控制回路为单片机控制电路，包括主控MCU和与之连接的电平转换芯片和存储器芯片，还包括与电平转换芯片输出端连接的场效应管驱动电路。

所述的逆变控制回路中的主控MCU通过电平转换芯片和场效应管驱动电路连接逆变主电路中的第一逆变电路和第二逆变电路，用以控制第一逆变电路和第二逆变电路的逆变过程。

所述的逆变主电路中的第一逆变电路和第二逆变电路结构相同，均为可控硅逆变电路，所述可控硅逆变电路包括两个并联的可控硅，可控硅的触发端通过接线端口连接至逆变控制回路的接线端。

所述的逆变控制回路中的主控MCU为单片机芯片，型号为：SPIC33FJ256GP710。

所述的逆变控制回路中的场效应管驱动电路为SOT23型场效应管。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明的一种高压电气设备一体化测试系统电源，可以同时输出两种频率电源，用于高压电气设备的测试，一路高频电源输出至待测电气设备上，用以向待测电气设备提供高频电流，一路低频电源输出至待测电气设备上，用以向待测电气设备提供低频电压。同时，这两路输出的频率和相位还可以由逆变控制回路中的单片机进行自由调节。满足高压电气设备一体化测试的多种供电需要。

附图说明

图1为本发明的一种高压电气设备一体化测试系统电源的整体结构示意图；

图2为本发明的一种高压电气设备一体化测试系统电源的逆变控制回路实施例图；

图3为本发明的一种高压电气设备一体化测试系统电源的逆变主电路实施例图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明提供的具体实施方式进行详细说明。

如图1所示，一种高压电气设备一体化测试系统电源，为高压电气设备的测试提供测试电源，包括连接于交流电源端的整流滤波电路以及整流滤波电路输出端连接的逆变主电路和逆变控制回路。

所述的逆变主电路包括第一逆变电路和第二逆变电路以及低通滤波电路，第一逆变电路输出侧连接低通滤波电路，低通滤波电路输出低频电源，第二逆变电路输出高频电源。

所述的逆变控制回路为单片机控制电路，包括主控MCU和与之连接的电平转换芯片和存储器芯片，还包括与电平转换芯片输出端连接的场效应管驱动电路。

所述的逆变控制回路中的主控MCU通过电平转换芯片和场效应管驱动电路连接逆变主电路中的第一逆变电路和第二逆变电路，用以控制第一逆变电路和第二逆变电路的逆变过程。

所述的逆变主电路中的第一逆变电路和第二逆变电路结构相同，均为可控硅逆变电路，所述可控硅逆变电路包括两个并联的可控硅，可控硅的触发端通过接线端口连接至逆变控制回路的接线端。