[发明专利]一种电容式触摸感应装置的性能测试方法

说明书

本发明公开了一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，包括：对电容式触摸感应装置的N个电容传感器在无触摸状态和触摸状态下的电容参数分别进行采集，并生成与之对应的未触摸数据和触摸数据；针对每一个电容传感器计算其差值；若所述N个电容传感器的差值均高于预设阈值，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格。本发明的性能测试方法可以对电容式触摸感应装置的稳定性和性能是否达标实现自动检测，耗时短，效率高，测试结果可自动生成，无需测试员根据操作体验主观判断产品的性能，由此解决了因人为因素造成的测试结果可靠性差的问题，提高了产品检测的精准度。

技术领域

本发明属于性能测试技术领域，具体地说，是涉及一种用于对电容式触摸感应装置进行性能测试的方法。

背景技术

电容式触摸感应装置是利用人体的电流感应进行工作的产品，它在目前的很多领域(例如移动电话、个人电脑、汽车中控等)已经逐渐代替传统的机械按钮作为产品的输入设备使用，不仅可以接收用户的操作指令，而且可以与显示屏结合使用，以简化整机的外形结构，美化产品的外观。

在目前的很多电容式触摸感应装置中都设置有多个电容传感器，用于感应用户在不同位置上执行的触摸操作。触摸感应装置在生产加工过程中，受制作工艺等因素的影响可能会出现装置中的某个或某几个电容传感器遭受损坏的问题，进而导致触摸感应装置存在出厂不良的情况。此外，对于出厂检测合格的电容式触摸感应装置，在将其作为部件与整机中的其它部件进行组装时，也经常会因为组装等问题导致整机出现功能异常等情况。例如，由于电容式触摸感应装置与产品的外壳间隙太大而导致手指的触摸无法被感知等问题。因此，在装配有触摸感应装置的产品出厂前，必须对触摸感应装置的性能进行测试，以检测产品是否存在由于触摸感应装置出厂不良或者组装因素导致功能异常的缺陷。

现有的电容式触摸感应装置的测试技术往往是通过测试员对产品整机的操作体验来完成的。这种测试方法耗时长，测试覆盖面有限，可能会忽略对某一个电容传感器的测试，且测试结果主要依赖于测试员的主观感受，因此，测试结果的可靠性较差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于电容式触摸感应装置的性能测试方法，旨在解决现有的通过测试员对产品整机的操作体验来测试触摸感应装置性能的方法耗时长、测试覆盖面有限、且测试结果受主观因素影响可靠性差的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案予以实现：

本发明在一个方面，提出了一种电容式触摸感应装置的性能测试方法，在所述电容式触摸感应装置中设置有N个电容传感器,对所述N个电容传感器在无触摸状态下的电容参数进行采集，生成与之对应的未触摸数据；并对所述N个电容传感器进行触摸，采集每一个电容传感器的电容参数，生成与之对应的触摸数据；针对每一个电容传感器计算其触摸数据与非触摸数据的差值；若所述N个电容传感器的触摸数据与非触摸数据的差值均大于等于预设阈值D0，则判定所述电容式触摸感应装置合格；否则，判定所述电容式触摸感应装置不合格。

作为所述预设阈值的一种优选确定方法：首先，选取P个电容式触摸感应装置作为样本，且每一个样本的第一个电容传感器损坏，其余电容传感器正常；其次，对每一个样本中的每一个电容传感器在无触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的未触摸数据；并对每一个样本中的每一个电容传感器在触摸状态下进行电容参数采集，生成与之对应的触摸数据；然后，针对每一个样本中的每一个电容传感器分别计算其触摸数据与非触摸数据的差值，记为样本差值；最后，从P个样本中的第一个电容传感器的样本差值中选取最大值Max(1)，从P个样本中的第2～N个电容传感器的样本差值中选取最小值Min(2～N)；确定预设阈值D0，所述预设阈值D0介于Max(1)与Min(2～N)之间。

优选的，所述预设阈值D0为Max(1)与Min(2～N)的中间值。