[发明专利]一种光学镀膜测量系统反射式光路装置

说明书

技术领域

本发明涉及光学镀膜设备领域，本发明涉及一种光学镀膜测量系统反射式光路装置。

背景技术

镀膜是用物理或化学的方法在材料表面镀上一层透明的电解质膜，或镀一层金属膜，目的是改变材料表面的反射和透射特性，在可见光和红外线波段范围内，大多数金属的反射率都可达到78％～98％，但不可高于98％。无论是对于CO2激光，采用铜、钼、硅、锗等来制作反射镜，采用锗、砷化镓、硒化锌作为输出窗口和透射光学元件材料，还是对于YAG激光采用普通光学玻璃作为反射镜、输出镜和透射光学元件材料，都不能达到全反射镜的99％以上要求。不同应用时输出镜有不同透过率的要求，因此必须采用光学镀膜方法，光学镀膜机就是一种专门用于光学镀膜的设备。

在光学镀膜完成后，需要测量镀膜平整度，从而判断镀膜质量，本发明就是一种用于判断镀膜平整度的反射式光路装置。

发明内容

本发明的目的就在于为了解决上述问题而提供一种光学镀膜测量系统反射式光路装置。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的：

一种光学镀膜测量系统反射式光路装置，包括装配底架、固定支撑架和显示屏，所述装配底架上设置有电力接入插头，所述电力接入插头与电路自检仪相连接，所述电路自检仪侧边设置有指示灯，所述电路自检仪侧边设置有导电管路，所述固定支撑架设置在所述绝缘蒙皮和所述上层横梁之间，所述上层横梁上设置有红外测距发射头阵列和红外线接收面板，所述红外线接收面板通过信息反馈链路与信息处理器相连接，所述信息处理器与所述显示屏相连接，所述显示屏侧边设置有连接架，所述连接架上设置有光敏感仪，所述装配底架底部设置有固定卯栓。

本实施例中，所述电力接入插头与所述电路自检仪电连接，所述电路自检仪与所述指示灯电连接。

本实施例中，所述电路自检仪安装在固定座上，所述电路自检仪与所述固定座通过螺栓固定连接。

本实施例中，所述绝缘蒙皮、所述固定支撑架、所述上层横梁内部进行空心设计，铺设有电缆。

本实施例中，所述电路自检仪与所述红外测距发射头阵列电连接，所述电路自检仪与所述红外线接收面板电连接，所述电路自检仪与所述光敏感仪电连接。

本实施例中，所述上层横梁与所述红外测距发射头阵列通过凹槽嵌套连接，所述上层横梁与所述红外线接收面板通过凹槽嵌套连接。

本实施例中，所述红外测距发射头阵列由拔插式接线柱、变压器、保护外壳、砷化镓发光二极管、聚光锆石、定位框架、导光通道和红外线发射探头组成，所述拔插式接线柱与所述电路自检仪电连接，所述拔插式接线柱与所述砷化镓发光二极管电连接，所述砷化镓发光二极管与所述聚光锆石固定连接。

本实施例中，所述聚光锆石与所述导光通道嵌套连接，所述导光通道与所述红外线发射探头固定连接，所述定位框架与所述保护外壳铆接。

本实施例中，所述红外线接收面板与所述信息反馈链路电连接，所述信息反馈链路与所述信息处理器电连接，所述信息处理器与所述显示屏电连接。

本实施例中，所述显示屏与所述红外线接收面板进行分体式设计，可以拆开分别装配在不同的位置。

本发明的有益效果在于：本发明可以通过红外测距的方式，检测镀膜表层对红外线的反射程度，并通过采集反射的红外线信息绘制出镀膜表层平整度曲线，直接通过画面显示出来，方便工作人员直观的感受到镀膜的平整度。

附图说明

图1是本发明所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的立体视图；

图2是本发明所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的俯视图；

图3是本发明所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的仰视结构简图；

图4是本发明所述一种光学镀膜测量系统反射式光路装置的所述红外测距发射头阵列的主视结构简图。

附图标记说明如下：

1、电力接入插头；2、装配底架；3、固定座；4、电路自检仪；5、指示灯；6、导电管路；7、绝缘蒙皮；8、固定支撑架；9、伸缩式信号接收头；10、红外测距发射头阵列；11、连接架；12、光敏感仪；13、红外线接收面板；14、显示屏；15、信息反馈链路；16、信息处理器；17、信息处理器；1001、拔插式接线柱；1002、变压器；1003、保护外壳；1004、砷化镓发光二极管；1005、聚光锆石；1006、定位框架；1007、导光通道；1008、红外线发射探头。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步说明：