[发明专利]显示基板、有机发光器件及膜层蒸镀检测方法、显示装置在审
申请号: | 201711130276.1 | 申请日: | 2017-11-15 |
公开(公告)号: | CN107742623A | 公开(公告)日: | 2018-02-27 |
发明(设计)人: | 杨凡;莫再隆 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;H01L51/56;H01L21/66;H01L27/32 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 姜春咸,陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 有机 发光 器件 膜层蒸镀 检测 方法 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种显示基板、有机发光器件、有机发光器件的膜层蒸镀检测方法、显示装置。
背景技术
有机电致发光(Organic Light-Emitting Device,OLED)显示装置的每个像素区中均设置有发光单元,发光单元包括多层有机膜层,各有机膜层通过蒸镀工艺形成。为了检测各有机膜层的蒸镀位置是否发生偏移,通常会在显示区域以外的区域设置对位区。图1是现有技术中的对位区的第一种设置位置示意图,其中对位区20设置在显示基板上,并位于显示区域11的两侧;图2是现有技术中的对位区的第二种设置位置示意图,其中,对位区20设置母板上相邻两个显示基板所在区10a之间的空置区;图3是对位区中的结构示意图。如图3所示,对位区20中设置有多个限位标记21,多个限位标记21能够限定出多个理论蒸镀区22的中心,在向显示区蒸镀各个有机膜层的同时,还向对位区蒸镀与各有机膜层分别对应的对位图形,以对位图形与理论蒸镀位置22对位情况,来表征显示区域11中蒸镀的各层有机材料是否发生偏移。
但是,图1中的设置方式会造成显示不良;图2中的设置方式会造成后续对位图形的对位情况无法准确表征显示区的有机膜层的对位情况,且将母板切割形成独立的显示基板后,无法检测显示区域中有机膜层的对位情况。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种显示基板、有机发光器件、有机发光器件的膜层蒸镀检测方法、显示装置,以更准确地检测显示区的有机膜层的对位情况,并减少显示不良。
为了解决上述技术问题之一,本发明提供一种显示基板,包括显示区域和环绕所述显示区域的非显示区域,所述非显示区域中设置有至少一个限位标记组,所述显示区域具有多条边,相邻两条边之间形成圆倒角;所述非显示区域包括与所述显示区域的边一一相对的边框部以及与所述圆倒角一一相对的拐角部;所述限位标记组位于所述拐角部。
优选地,每个所述限位标记组包括多个限位标记,每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置;对于任意一个限位标记组,多个所述限位标记限定的多个所述理论蒸镀区排成多行多列。
优选地,对于任意一个限位标记组,多个所述限位标记和所述多个所述理论蒸镀区围成对位区,所述对位区沿所述显示区域长度方向和宽度方向的尺寸均在100μm~130μm之间。
优选地,所述限位标记为条形,对于任意一个限位标记组:
所述多个限位标记至少包括两个第一限位标记和两个第二限位标记,所述第一限位标记沿第一方向延伸,所述第二限位标记沿与所述第一方向交叉的第二方向延伸;两个所述第一限位标记沿所述第二方向排列,两个所述第二限位标记沿所述第一方向排列,且该两个第二限位标记位于两个所述第一限位标记中心连线的两侧。
优选地,所述限位标记组中的多个限位标记还包括第三限位标记,所述第三限位标记为条形且沿所述第二方向延伸,所述第三限位标记与其中一个所述第一限位标记相交叉,形成十字结构。
优选地,所述显示区域设置有像素界定层,所述像素界定层上设置有多个像素开口,所述显示区域还设置有与像素开口一一对应的电极;
所述非显示区域设置有外延膜层,所述外延膜层上设置有与限位标记一一对应的通孔,所述限位标记设置在所述通孔中;所述外延膜层与所述电极同层设置且材料相同,所述限位标记与所述像素界定层同层设置且材料相同。
优选地,所述外延膜层和所述限位标记中的一者透光,另一者不透光。
相应地,本发明还提供一种有机发光器件,包括上述显示基板,所述显示基板的显示区域设置有多种有机膜层,所述显示基板的非显示区域设置有与所述限位标记组一一对应的对位图形组,所述对位图形组位于相应的限位标记组所在的拐角部。
优选地,每个限位标记组包括多个限位标记,每个限位标记组中的多个限位标记用于限定多个理论蒸镀区的位置;
每个对位图形组包括多个对位图形,每个对位图形组的多个对位图形与多种有机膜层的材料一一对应相同;对于任意一个对位图形组,该对位图形组中的多个对位图形与该对位图形组所对应的限位标记组限定出的多个理论蒸镀区一一对应。
相应地,本发明还提供一种显示装置,包括上述有机发光器件。
相应地,本发明还提供一种有机发光器件的膜层蒸镀检测方法,包括:
S1、提供上述有机发光器件;
S2、利用限位标记组及相应的对位标记组来确定显示基板的显示区域中有机膜层的蒸镀偏移量。
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