[发明专利]一种光纤色散系数的测量装置

说明书

本发明公开了一种光纤色散系数的测量装置，包括宽谱光源、电光调制器和计算机，宽谱光源输出端连接光纤耦合器，光纤耦合器的一个输出端和电动可调光纤延迟线连接，光纤耦合器和电动可调光纤延迟线构成一个马赫曾德干涉仪，马赫曾德干涉仪的输出端连接光谱仪和电光调制器，电光调制器输出的调制信号经过待测光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器将光信号装换成微波信号并通过低噪放放大，低噪放输出端连接微波功分器，微波功分器将一部分微波信号注入到电光调制器中，同时将另一部分微波信号输入频谱仪，频谱仪末端连接计算机，本发明可实现高精度光纤色散系数的测量，同时克服了环境影响，简化了结构。

技术领域

本发明涉及一种测量装置，具体为一种光纤色散系数的测量装置。

背景技术

光纤色散系数，意思是单位谱宽所引起的脉冲展宽值。光纤的色散系数是光纤的一个重要参数，色散系数的大小决定了色散光纤色散的补偿能力。

光纤色散系数的测量是光纤参数测量技术的重要研究方向，传统测量手段都是通过脉冲延迟法、相移法、模场直径法和白光干涉等方法来实现，相移法存在容易受大大气扰动和环境振动的干扰的缺点，白光干涉由于存在衍射受限和系统的横向分辨力由物镜的孔径尺寸来决定，所以一般的横向分辨力相对比较低，脉冲延迟发法抗环境干扰性能较差，模场直径法需要复杂的时频分析算法来计算和分析测量结果。

本发明提出了一种基于光纤微波光子滤波器的光纤色散系数的测量方法和装置，以解决上述问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有测量装置在工作过程中，成本高、精度差和结构复杂的缺陷，提供一种光纤色散系数的测量装置，从而解决上述问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：

本发明一种光纤色散系数的测量装置，包括宽谱光源、电光调制器和计算机，宽谱光源输出端连接光纤耦合器，光纤耦合器的一个输出端和电动可调光纤延迟线连接，电动可调光纤延迟线的输出光和光纤耦合器的输出光在一端合束，光纤耦合器和电动可调光纤延迟线构成一个马赫曾德干涉仪，马赫曾德干涉仪的输出端连接光谱仪和电光调制器，电光调制器输出的调制信号经过待测光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器将光信号装换成微波信号并通过低噪放放大，低噪放输出端连接微波功分器，微波功分器将一部分微波信号注入到电光调制器中，同时将另一部分微波信号输入频谱仪，频谱仪末端连接计算机。

作为本发明的一种优选技术方案，电光调制器、待测光纤、高速光电探测器、低噪放和微波功分器组成光电振荡器环路，且光电振荡器环路输入端与马赫曾德干涉仪的输出端相连接，能够将马赫曾德干涉仪输出端产生的干涉正弦梳状谱注入光电振荡器环路中，并通过光电振荡器环路产生微波信号。

作为本发明的一种优选技术方案，电光调制器内部设置有线性调制设备，线性调制设备表面设置有纵向和横向接口，接口均位于铝外壳中，由于电光效应可分为线性电光效应(泡克耳斯效应)和二次电光效应(克尔效应)，而线性电光效应比二次电光效应的作用效果明显，因此采用线性调制效果更好。

作为本发明的一种优选技术方案，宽谱光源可采用高斯型或矩形光源作为发射光源，使得光源发射装置的选择性更高。