[发明专利]结构体积的获取方法及装置、非暂态计算机可读存储介质及打印机有效
申请号: | 201711126951.3 | 申请日: | 2017-11-15 |
公开(公告)号: | CN107727189B | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 陈伟;向东清;谢林庭 | 申请(专利权)人: | 珠海赛纳打印科技股份有限公司 |
主分类号: | G01F17/00 | 分类号: | G01F17/00;B29C64/386;B33Y50/00 |
代理公司: | 11444 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王刚;龚敏 |
地址: | 519060 广东省珠海市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 体积 获取 方法 装置 非暂态 计算机 可读 存储 介质 打印机 | ||
1.一种结构体积的获取方法,其特征在于,所述方法包括:
针对在指定平面上放置的模型,在平行于所述指定平面的方向上确定多个与指定平面距离不同的基准面;
针对多个基准面中至少一个基准面,获取位于每个基准面上方的模型在该基准面上的垂直投影面积,得到至少一个垂直投影面积;
基于所述至少一个垂直投影面积,得到总体积;
基于所述总体积以及所述模型的体积,得到所述模型的支撑结构的体积;
其中,所述针对多个基准面中至少一个基准面,获取位于每个基准面上方的模型在该基准面上的垂直投影面积,得到至少一个垂直投影面积,包括:
针对多个基准面中每个基准面,获取位于每个基准面上方的模型在该基准面上的垂直投影面积,得到至少一个垂直投影面积;
或者,
基于多个基准面中最底部的基准面,获取位于该基准面上方的模型在该基准面上的垂直投影,以作为第一垂直投影;
在除所述最底部的基准面以外的基准面中,获取目标基准面,所述目标基准面为对应的垂直投影与所述第一垂直投影重合的基准面;
若所述目标基准面为多个基准面中最顶部的基准面,获取所述第一垂直投影的面积,以作为各垂直投影面积;或者,若所述目标基准面不是多个基准面中最顶部的基准面,获取所述第一垂直投影的面积,以作为所述目标基准面以下各基准面对应的垂直投影面积;以及,分别获取所述目标基准面以上各基准面对应的垂直投影面积。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在垂直于所述指定平面方向上,每两个相邻基准面之间的距离相等或者不等。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在除所述最底部的基准面以外的基准面中,获取目标基准面,包括:
从多个基准面中最顶部的基准面开始,按照从最顶部到最底部的方向,依次获取并判断所述模型在该基准面上的垂直投影与所述第一垂直投影是否重合,直至获取到与所述第一垂直投影相重合的垂直投影所在的基准面,以作为所述目标基准面。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在除所述最底部的基准面以外的基准面中,获取目标基准面,包括:
若多个基准面中最顶部的基准面上的垂直投影与所述第一垂直投影不重合,在最顶部的基准面与最底部的基准面中,确定一等分基准面;
判断该等分基准面上的垂直投影与第一垂直投影是否重合;
如果是,在该等分基准面与最顶部的基准面之间再确定另一等分基准面,并判断该另一等分基准面上的垂直投影与该等分基准面上的垂直投影是否重合,以此类推,直至获取到与所述第一垂直投影相重合的垂直投影所在的基准面;如果否,在该等分基准面与最底部的基准面之间再确定另一等分基准面,并判断该另一等分基准面上的垂直投影与第一垂直投影是否重合,以此类推,直至获取到与所述第一垂直投影相重合的垂直投影所在的基准面。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,获取垂直投影的面积包括:
将垂直投影所在基准面平均分割成指定面积的若干方块区域;
确定所述垂直投影所覆盖的方块区域的数量;
根据所述指定面积和所述数量的乘积,得到所述垂直投影的面积。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述基于所述至少一个垂直投影面积,得到总体积,包括:
根据至少一个垂直投影面积以及每两个基准面之间的距离,得到至少一个子体积;
根据至少一个子体积的累加和,得到所述总体积。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,基于所述总体积以及所述模型的体积,得到所述模型的支撑结构的体积,包括:根据所述总体积与所述模型的体积之间的差值,得到所述模型的支撑结构的体积。
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