[发明专利]一种无源UHFRFID芯片存储容量的测试方法

权利要求书

1.一种无源UHF RFID芯片存储容量的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：

步骤1，选取一所述测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；

步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；

步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片的预定存储区反复发送写入命令以反复写入一预定数据，直到所述预定存储区被写满；

步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；

步骤6，使所述RFID标签读写器向所述待测试芯片发送读取命令，读取所述预定存储区；

步骤7，对比写入数据与读取到的数据是否一致，如一致则记录读取到的数据的位数作为所述待测试芯片的预定存储区的存储容量；

步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述待测试芯片为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括一环形器，所述射频信号分析装置通过馈线连接所述第环形器的第一端口，所述RFID标签读写器通过馈线连接所述环形器的第二端口，所述待测试芯片通过馈线连接所述环形器的第三端口。

6.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤4中，所述预定数据为两个不同的八位字符。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述两个不同的八位字符中的第一个字符为5A3Chex，第二个字符为0FF0hex。

8.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤4中，所述预定存储区对应所述测试用例。