[发明专利]脚型测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种脚型测量装置。

背景技术

传统脚型测量中围度测量一般都是手工完成，直接由店员拿皮尺量脚，这种测量对店员的数量程度要求较高，而且测量过程中很难测量精准。

发明内容

鉴于背景技术的不足，本发明所要解决的技术问题是提供一种脚型测量装置，该脚型测量装置能够精确测量足部各处的围度。

本发明提供的脚型测量装置，包括鞋底，鞋底上带有后跟托，所述鞋底上沿宽度方向配置有围度测量带，围度测量带上标注有长度刻度，围度测量带与鞋底之间配置有长度调节和定位装置，人工调整长度调节和定位装置能够将围度测量带定位并根据脚部围度调整长度。

上述技术方案中，所述长度调节和定位装置包括设置于鞋底侧边上的多个收卷器，收卷器内带有卷轴，卷轴配置有弹性回转机构，所述围度测量带的一端固定在卷轴上。

上述技术方案中，所述长度调节和定位装置包括设置于鞋底上的磁吸块，所述围度测量带端部带有与磁吸块匹配的磁吸部，通过调节磁吸块与磁吸部吸合的位置调节围度测量带与足部匹配。

本发明的技术效果：该脚型测量装置能够精确测量足部各处的围度，从而更加精准地制鞋，并且围度测量带和长度调节和定位装置固定于鞋底上后能够更好的对准需要测量的位置，使测量得到的足部围度数据更加精准。当长度调节和定位装置采用收卷器时，能够将围度测量带收卷在鞋底侧边，使用时直接拉起测量，因测量带的一端被收卷器固定，只需将围度测量带的另一端对准足部即可，使用和收藏都极为方便。当长度调节和定位装置采用鞋底的磁吸块和围度测量带的磁吸部时，围度测量带即可采用磁体吸住，测量和定位都更加方便。

附图说明

本发明有如下附图：

图1为本发明第一种实施例提供的脚型测量装置的结构示意图;

图2为图1中的脚型测量装置的俯视结构示意图;

图3为本发明第二种实施例提供的脚型测量装置的结构示意图;

图4为图3中的脚型测量装置的鞋底结构示意图。

具体实施方式

参照图1、图2所示，本发明第一种实施例提供的脚型测量装置，包括鞋底1，鞋底1上带有后跟托2，所述鞋底1上沿宽度方向配置有围度测量带3，围度测量带3上标注有长度刻度，围度测量带3与鞋底1之间配置有长度调节和定位装置，人工调整长度调节和定位装置能够将围度测量带定位并根据脚部围度调整长度。所述长度调节和定位装置包括设置于鞋底侧边上的多个收卷器4，收卷器4内带有卷轴5，卷轴5配置有弹性回转机构，收卷器4结构与卷尺一致，属于现有技术，一般卷轴5配置有扭簧以提供转动复位能力，所述围度测量带3的一端固定在卷轴5上。靠近脚腕处配置有一套围度测量带和长度调节和定位装置，脚掌最宽部配置有一套围度测量带和长度调节和定位装置，脚趾跖骨前端处配置有一套围度测量带和长度调节和定位装置。

参照图3、图4所示，本发明第二种实施例提供的脚型测量装置与第一种实施例基本相同，区别仅在于：所述长度调节和定位装置包括设置于鞋底1上的磁吸块6，所述围度测量带端部带有与磁吸块6匹配的磁吸部7，在实际操作中磁吸块6和磁吸部7均可以是磁体或者可被吸附的金属，只要能够保证两者能够相吸附即可，通过调节磁吸块6与磁吸部7吸合的位置调节围度测量带3与足部匹配。所述鞋底1上开设有磁体安置槽8，磁体安置槽8的至少一端带有通孔9。在本实施例中，所述磁吸块6为磁体，磁体置入磁体安置槽8中，磁体的一端裸露于通孔9，所述围度测量带3的一端固定在鞋底1侧边，磁吸部7设置于所述围度测量带3的另一端。

上述第二种实施例中，磁体和围度测量带3的设置方式还可以采用如下方式：所述鞋底1上开设有磁体安置槽8，磁体安置槽8的两侧端带有通孔9，所述磁吸块6为磁体，磁体置入磁体安置槽8中，磁体的两端裸露于通孔9，所述围度测量带3的侧端均带有磁吸部7。