[发明专利]数字T/R组件测试系统及其发射、接收状态测试方法

说明书

本发明特别涉及一种数字T/R组件测试系统，包括被测数字T/R组件、与数字T/R组件的输入端相连的相参发射模块、与数字T/R组件的输出端相连的相参接收模块以及与数字T/R组件相连的多路光控制模块，还包括输出控制指令和测试参数至相参发射模块、相参接收模块、多路光控制模块的控制模块；并且公开了其发射、接收状态测试方法。本发明可以实现自动测试单通道的各项指标和多通道的相参指标，并可以自动完成数字T/R组件的校准，不需要多次插拔仪器，实现数字T/R组件的自动化测试，提高测试效率，减少系统误差和测试时间。

技术领域

本发明涉及数字T/R组件测试技术领域，特别涉及一种数字T/R组件测试系统及其发射、接收状态测试方法。

背景技术

数字T/R组件测试系统一般由发射状态测试系统和接收状态测试系统组成。对于发射状态的测试，现常用的做法是：通过将数字T/R组件发射端信号通过转换得到微波信号，然后通过一系列测试仪器测试得到各项指标，再通过对各项指标的分析得到测试结果，这样的测试方法简单，但是在不同测试指标切换时，会出现多次插拔仪器的情况，这会使得系统在测试中容易出现问题，导致测试结果不准确；同时还会耗费大量时间。对于接收状态的测试，由于数字T/R组件接收端输出的是光信号，因此测试仪器无法使用，已有的方法是对光信号进行数据处理和分析，从而得到各项指标。不管是发射状态的测试，还是接收状态的测试，它们在测试指标时不容易实现多通道的相参测试，故测试效率低；同时，它们未考虑数字T/R组件的校准问题，也导致测试得到的结果准确度不够高。

发明内容

本发明的首要目的在于提供一种测试效率高且测试结果准确的数字T/R组件测试系统。

为实现以上目的，本发明采用的技术方案为：一种数字T/R组件测试系统，包括被测数字T/R组件、相参发射模块、相参接收模块、多路光控制模块以及控制模块；所述的相参发射模块与数字T/R组件的输入端相连用于输出多通道相参的射频信号至被测数字T/R组件；相参接收模块与数字T/R组件的输出端相连用于接收和处理数字T/R组件输出的相参射频信号；多路光控制模块用于向数字T/R组件提供电源、本振、相参时钟，在进行数字T/R组件发射状态测试时，多路光控制模块与数字T/R组件的输入端相连用于向数字T/R组件输出光信号，在进行数字T/R组件接收状态测试时，多路光控制模块与数字T/R组件的输出端相连用于接收数字T/R组件输出的光信号；控制模块输出控制指令和测试参数至相参发射模块、相参接收模块、多路光控制模块并保存测试结果数据。

与现有技术相比，本发明存在以下技术效果：本系统搭建完成后，即可以实现自动测试单通道的各项指标和多通道的相参指标，并可以自动完成数字T/R组件的校准，不需要多次插拔仪器，实现数字T/R组件的自动化测试，提高测试效率，减少系统误差和测试时间。

本发明的另一个目的在于提供一种测试效率高的数字T/R组件测试系统的测试方法。

为实现以上目的，本发明采用的技术方案为：

发射状态测试包括如下步骤：(A1)初始化测试系统各模块；(B1)控制多路光控制模块提供数字T/R组件的电源、本振和相参时钟；(C1)控制数字T/R组件工作在发射状态；(D1)根据测试指标控制数字T/R组件正常工作或进行移相切换或进行幅度控制；(E1)控制多路光控制模块产生测试的光信号；(F1)控制相参接收模块对数字T/R组件输出的射频信号进行处理；(G1)获取测试指标结果并保存，完成测试。

接收状态测试包括如下步骤：(A2)初始化测试系统各模块；(B2)控制多路光控制模块提供数字T/R组件的电源、本振和相参时钟；(C2)控制数字T/R组件工作在接收状态；(D2)根据测试指标控制数字T/R组件正常工作或进行移相切换或进行幅度控制；(E2)控制相参发射模块产生测试的射频信号波形；(F2)控制多路光控制模块对数字T/R组件输出的光信号进行处理；(G2)获取测试指标结果并保存，完成测试。