[发明专利]一种清洁不规则柱状物体表面的方法有效
申请号: | 201711108226.3 | 申请日: | 2017-11-08 |
公开(公告)号: | CN107891017B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 潘峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市汯沐科技有限公司 |
主分类号: | B08B1/00 | 分类号: | B08B1/00;G01B11/24 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 张明 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 清洁 不规则 柱状 物体 表面 方法 | ||
1.一种清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1:建立不规则柱状物体的三维模型;
S2:以清洁单元的面积为基本单元,在三维模型表面进行排列覆盖;
S3:将全部的基本单元的中心点串联,得到清洁轨迹线;
S4:根据所述清洁轨迹线对不规则柱状物体进行清洁;
步骤S1中建立不规则柱状物体的三维模型具体包括如下步骤:
S11:将若干个预设光源呈环形均匀设置,将所述不规则柱状物体设置于所述若干个预设光源所围成的环形的中间;
S12:对每个预设光源依次执行如下步骤:
S121、将所述预设光源发出的光线进行散射,生成若干个具有规则间隔的扇面发散光,根据该若干个具有规则间隔的扇面发散光,生成标准参照电子信号;
S122、将该若干个具有规则间隔的扇面发散光射向所述不规则柱状物体,检测经所述不规则柱状物体反射的发散光,得到实测电子信号;
S123、根据所述标准参照电子信号和实测电子信号,得到对应所述预设光源的所述不规则柱状物体的轮廓线;
S13:将相邻预设光源对应的两个轮廓线首尾相连得到所述不规则柱状物体的平面轮廓;
S14:将呈环形均匀设置的所述若干个预设光源竖直向上或向下移动,并重复步骤S12及S13,得到不规则柱状物体的多个平面轮廓;
S15:对相邻两个平面轮廓进行蒙皮处理,得到不规则柱状物体的三维模型。
2.根据权利要求1所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:步骤S12中生成标准参照电子信号具体包括:设置标准参照面,得到各扇面发散光对应于所述标准参照面上的线段,检测标准参照面上扇面发散光对应的线段,得到标准参照电子信号。
3.根据权利要求2所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:在步骤S121之后还包括步骤:将得到的标准参照电子信号均分为N等分,求得每个扇面发散光各自对应的波峰所占的标准等分数,N为大于1的整数。
4.根据权利要求3所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:在步骤S122之后还包括步骤:将实测电子信号也均分为N等分,得到每个扇面发散光各自对应的波峰所占的实测等分数。
5.根据权利要求4所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:步骤S123具体包括:S1231、根据所述标准等分数、实测等分数及所述扇面发散光对应标准参照面上的线段长度,得到各扇面发散光内平行于标准参照面的实测轮廓线段;S1232、将相邻两个所述实测轮廓线段首尾相连,得到对应所述预设光源的不规则柱状物体轮廓线。
6.根据权利要求5所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:实测轮廓线段长度的求解公式为:BC=DE×(n1÷n0),其中,BC为实测轮廓线段长度,DE为扇面发散光对应标准参照面上的线段长度,n1为实测等分数,n0为标准等分数。
7.根据权利要求1所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:在步骤S14中,将呈环形均匀设置的所述若干个预设光源竖直向上或向下每移动一预设距离后便重复一次步骤S12及S13。
8.根据权利要求1所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:在步骤S3中除位于所述清洁轨迹线首端和末端的两个基本单元的中心点之外,其余的基本单元的中心点只和与其相邻的两个基本单元的中心点连接。
9.根据权利要求1所述的清洁不规则柱状物体表面的方法,其特征在于:在步骤S4中对不规则柱状物体进行清洁时,从清洁轨迹线的首端沿所述清洁轨迹线一直清洁到清洁轨迹线的末端。
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