[发明专利]一种程控步进衰减器可靠性测试方法、系统及装置

说明书

技术领域

本发明属于电子测试的技术领域，尤其是涉及一种程控步进衰减器可靠性测试方法、系统及装置，可同时用于多套程控步进衰减器的可靠性测试。

背景技术

程控步进衰减器是射频微波测量仪器、系统中重要的微波部件，其可靠性对系统的稳定运行有着决定性的影响。在生产调试过程中，应当针对程控步进衰减器做出大数据量、长时间的测试来保证其可靠性。

现有的程控步进衰减器可靠性测试方案是使用矢量网络分析仪平台改装硬件系统，基于TestCenter编制的可靠性测试平台，根据最大的端口数量，同时连接4套程控步进衰减器，进行较为快速的可靠性测试试验。主体是AV3629矢量网络分析仪，其具有8端口，添加四个衰减器控制端。测试方案运行时，首先要求进行直通校准，然后根据TestCenter编制的测试软件将矢量网络分析仪设置为点频，改变控制信号使被测程控步进衰减器切换直通和各级衰减，同时控制矢量网络分析仪四个衰减器控制端测试衰减值和直通值并写入表格。现有的测试方案实现自动化测试，较大程度地节省了人力和时间。

但是，现有的测试方案也存在诸多问题和不足，具体如下：

(1)现有的测试方案基于矢量网络分析仪平台的改装，结构、电路受限，根据最大的端口数量，只能实现四个程控步进衰减器的同时测试，很难再拓展同时测试的被测件数量；

(2)现有的测试方案对完整的网络分析仪改装，平台成本比较高；

(3)由于现有的测试方案的测试原理是借助矢量网络分析仪的S参数测试来准确测量点频上的信号衰减，所以最快测试速度受到一定的限制。

综上所述，针对现有技术中存在的上述问题，需要一种结构更加简单低成本、测试速度更快，同时间测试被测件数量更大的测试方法、系统及装置。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，解决现有技术中程控步进衰减器可靠性测试方案结构复杂、同时间测试被测件较少无法扩展测试数量、系统成本高、最快测试速度受限的问题，本发明提供了一种程控步进衰减器可靠性测试方法、系统及装置，有效实现多个程控步进衰减器更加高效快速、简单低成本的可靠性测试，以满足日益增长的程控步进衰减器的测试需求。

本发明的第一目的是提供一种程控步进衰减器可靠性测试系统。

为了实现上述目的，本发明采用如下一种技术方案：

一种程控步进衰减器可靠性测试系统，该系统包括：主控计算机，程控电源，频率发生装置，和安装在主控计算机内实现与被测程控步进衰减器连接的数字I/O装置和数据采集装置；

所述主控计算机通过所述数字I/O装置向被测程控步进衰减器提供控制信号；所述频率发生装置向被测程控步进衰减器提供点频信号；所述数据采集装置采集经过检波装置的被测程控步进衰减器的衰减信号传输至所述主控计算机进行测试；

所述数字I/O装置和所述数据采集装置的接口数根据被测程控步进衰减器的级数和数量上限确定。

在本发明中，采用主控计算机、数字I/O装置、频率发生装置和数据采集装置与被测程控步进衰减器构成信号通路，进行程控步进衰减器可靠性测试，替代了现有测试方案中的使用矢量分析网络分析仪平台改装的硬件系统，结构、原理简单，成本控制更优；根据被测程控步进衰减器的级数和数量上限，可选用接口数量更多的数字I/O装置和数据采集装置，保证更多套被测程控步进衰减器同时测试，有效提高了程控步进衰减器可靠性测试系统的效率。

作为进一步的优选方案，所述频率发生装置输出的点频信号经过衰减网络调整点频信号幅度，使被测程控步进衰减器的衰减信号位于所述检波装置的最优线性区间内。

在本发明中，在频率发生装置与被测程控步进衰减器之间增加衰减网络，有效保证通过各种单级衰减后的信号落入检波装置最优的线性区间内，将被测程控步进衰减器的衰减信号通过检波装置得到检波电压。

作为进一步的优选方案，所述数据采集装置的接口数等于同时测量的被测程控步进衰减器的数量上限。

作为进一步的优选方案，所述数字I/O装置的接口数根据被测程控步进衰减器的级数上限结合被测程控步进衰减器的数量上限确定，且至少为被测程控步进衰减器的级数上限的两倍。

作为进一步的优选方案，所述主控计算机通过通用接口总线连接程控直流电源，所述程控直流电源与被测程控步进衰减器连接，所述主控计算机控制所述程控直流电源输出驱动电压驱动被测程控步进衰减器。

本发明的第二目的是提供一种程控步进衰减器可靠性测试方法。

为了实现上述目的，本发明采用如下一种技术方案：