[发明专利]一种用于航天器弹射系统的点火系统单元测试仪在审
| 申请号: | 201711103443.3 | 申请日: | 2017-11-10 |
| 公开(公告)号: | CN109782065A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
| 发明(设计)人: | 李永强;林汝梁;王铮;郑炜;王思维 | 申请(专利权)人: | 北京航天万源科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02;G01R31/00;G05B23/02 |
| 代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 王洁 |
| 地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试模块 以太网通信模块 管理装置 密钥模块 移动密钥 安全保险机构 火工品测试 开关控制器 弹射系统 点火系统 测试仪 航天器 外置 测量 电子测量设备 上位机软件 数据保密性 被测系统 测试流程 电源电压 密码破译 设置调整 一键测试 火工品 计算机 多路 关断 解锁 接通 | ||
本发明属于电子测量设备技术领域,具体涉及一种用于航天器弹射系统的点火系统单元测试仪,包括MCU、电源电压设置调整系统、火工品测试模块、开关控制器测试模块、安全保险机构测试模块、以太网通信模块、密钥模块、计算机及移动密钥管理装置;MCU分别连接密钥模块、火工品测试模块、安全保险机构测试模块、开关控制器测试模块、以太网通信模块,其中密钥模块连接外置的移动密钥管理装置,以太网通信模块连接计算机。有益效果:测量安全性好、精度高且能测量多路火工品;有外置的移动密钥管理装置,数据保密性好;可同时具备以下功能:对被测系统ID读取、密码解锁并接通、关断及密码破译功能;上位机软件一键测试流程及单项测试流程。
技术领域
本发明属于电子测量设备技术领域,具体涉及一种用于航天器弹射系统的点火系统单元测试仪。
背景技术
单元测试设备在电子测量领域极为必要,它实现了被测信号与测量装置间的良好对接。在航天器弹射系统中火工品的测量、安全保险机构及密码机构在整个系统中处于关键位置。随着大数据时代的来临,电子测量的集成度要求越来越高,单一功能的单元测试设备开始逐渐不能满足需求。现有单元测试仪无法同时具备以下功能:对测量火工品电阻阻值线阻补偿机制;对被测系统ID读取、密码解锁并接通、关断及密码破译功能;上位机软件一键测试流程及单项测试流程。此外,现有单元测试仪还存在以下问题:测量安全性差、精度低且不能测量多路火工品;无外置的移动密钥管理装置,数据保密性低。因此在适应于航天应用的同时,设计一种集成度高、具有多种单元测试能力的单元测试装置具备现实应用的需求。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术无法集成多种功能的问题,提供了一种用于航天器弹射系统的点火系统单元测试仪。
本发明的技术方案如下:
一种用于航天器弹射系统的点火系统单元测试仪,包括MCU、电源电压设置调整系统、火工品测试模块、开关控制器测试模块、安全保险机构测试模块、以太网通信模块、密钥模块、计算机及移动密钥管理装置;MCU分别连接密钥模块、火工品测试模块、安全保险机构测试模块、开关控制器测试模块、以太网通信模块,其中密钥模块连接外置的移动密钥管理装置,以太网通信模块连接计算机。
所述电源电压设置调整系统,实现不同供电电压需求;具备外置移动密钥管理装置,移动密钥具有唯一性和使用次数限制;具备使用四线制测电阻原理的、具有保护功能的可以测量多路火工品阻值的高精度测量电路;具备对测量火工品电阻阻值线阻补偿机制;具备对被测系统ID读取、密码解锁并接通、关断及密码破译功能;具备对安全保险机构的电机、电磁销电阻测量及驱动状态转换,计算转换时间及状态检测;具备上位机软件一键测试流程及单项测试流程。
所述电源电压设置调整系统用于实现点火系统单元测试仪不同供电电压需求,通过与交流或直流电源连接的数字电位计实现电压调整;电源电压设置调整系统与MCU采用串行外设接口通信,通过串行外设接口接收MCU发送相应参数,调整数字电位器的阻值来实现电源电压调整。
所述计算机配置安装点火系统单元测试仪测试软件,具有用户管理、密钥管理、开关控制器测试、安全保险机构测试、火工品电阻阻值测量、电源电压调整功能。
所述以太网通信模块是计算机和MCU通信的桥梁,能够接收计算机的控制指令,并下发给MCU,实现相应指令输出;并接收MCU的反馈信息,上传给计算机显示。
所述MCU用于接收通过以太网通信模块传送的计算机下发的指令,统一调配电源电压设置调整系统、火工品测试模块、开关控制器测试模块、安全保险机构测试模块、以太网通信模块、密钥模块及移动密钥管理装置完成测试任务。
所述开关控制器测试模块通过SPI接口与开关控制器通信,能够根据MCU的指令,通过给开关控制器发送相应的功能代码实现开关控制器的功能测试、解锁和复位,并反馈测试情况给MCU。
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